CIQTEK ダイナミックでやりがいのある一週間を無事に終えました 顕微鏡検査と微量分析 2025 (M&M 2025) は、世界の顕微鏡業界で最も影響力のあるイベントの一つです。これは、私たちが顕微鏡業界におけるプレゼンスを拡大し続ける上で、新たな重要な節目となります。 北米 電子顕微鏡市場。
ブースでは、材料科学、生命科学など幅広い分野の研究者や専門家と交流し、最新のイノベーションを展示しました。 高性能 電界放出走査電子顕微鏡（FESEM） イメージング速度、解像度、そしてユーザーフレンドリーな操作性を重視し、開発を進めました。現地での高い関心と肯定的なフィードバックは、当社の技術が科学界にとってどれほど価値があるかを再確認させてくれました。
このイベントのハイライトは、多くの参加者が集まった ベンダーチュートリアル 、フィーチャリング CIQTEK電子顕微鏡 専門家のルーク・レン氏。彼のプレゼンテーションは 高速FESEM（ 裾 ）画像診断 会場からは、洞察に満ちた議論と活発なご参加をいただきました。皆様の関心の高さに大変感激いたしました。ご参加いただき、このセッションの成功に貢献いただいた皆様に心より感謝申し上げます。
私たちはまた、信頼できる 米国販売代理店 JH Technologies社には、イベントを通して素晴らしいサポートをいただき、誠にありがとうございました。彼らのプロフェッショナリズムと献身的な姿勢は、全国のより多くのユーザーやパートナーとの繋がりを築く上で非常に重要な役割を果たしました。私たちは共に、CIQTEKの北米における長期的な成長に向けた、より強固な基盤を築いていきます。
M&M 2025は単なる見本市ではありませんでした。最先端の電子顕微鏡ソリューションをより多くの科学者や研究機関に提供していくという私たちの取り組みにおいて、意義深い一歩となりました。私たちは、皆様との対話や協力関係に刺激を受け、将来の機会を既に見据えています。
皆様のお越しをお待ちしております ミルウォーキーで開催されるM&M 2026！
超高解像度電界放出走査電子顕微鏡（FESEM） その CIQTEK SEM5000X は、最適化された電子光学カラム設計を採用した超高分解能FESEMです。全体的な収差を30%低減し、0.6nm@15kVおよび1.0nm@1kVという超高分解能を実現しています。高い分解能と安定性により、先端ナノ構造材料研究やハイテクノードの半導体ICチップの開発・製造において優位性を発揮します。
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Ga+集束イオンビーム電界放出走査電子顕微鏡 その CIQTEK DB550 集束イオンビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM） ナノ分析および試料作製用の集束イオンビームカラムを備えています。「スーパートンネル」電子光学技術、低収差、非磁性対物レンズ設計を採用し、「低電圧・高分解能」という特長により、ナノスケールの分析能力を確保しています。 イオンカラムは、Ga+液体金属イオン源から高安定性・高品質イオンビームを供給し、ナノファブリケーション能力を実現します。DB550は、ナノマニピュレーター、ガスインジェクションシステム、そしてユーザーフレンドリーなGUIソフトウェアを統合したオールインワンのナノ分析・ファブリケーションワークステーションです。
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高速 完全自動化フィールドエミッション 走査型電子顕微鏡 ワークステーション CIQTEK HEM6000 高輝度大ビーム電流電子銃、高速電子ビーム偏向システム、高電圧サンプルステージ減速、ダイナミック光軸、液浸電磁静電コンボ対物レンズなどの設備技術を採用し、ナノスケールの解像度を確保しながら高速画像取得を実現します。 自動化された操作プロセスは、より効率的でスマートな大面積高解像度イメージングワークフローなどの用途向けに設計されています。そのイメージング速度は、従来の電界放出走査電子顕微鏡（FESEM）の5倍以上です。
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超高解像度 タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡 その CIQTEK SEM3300 走査型電子顕微鏡（SEM） 「スーパートンネル」電子光学系、インレンズ電子検出器、静電・電磁複合対物レンズなどの技術を採用しています。これらの技術をタングステンフィラメント顕微鏡に適用することで、長年のSEMの分解能限界を突破し、これまで電界放出型SEMでしか実現できなかった低電圧分析をタングステンフィラメントSEMで実行できるようになります。
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