低励起下での高解像度
その CIQTEK SEM5000Pro は 高解像度ショットキー 電界放出走査電子顕微鏡（FE-SEM） 低励起電圧下でも高解像度を実現。先進の「スーパートンネル」電子光学技術を採用し、クロスオーバーフリーのビームパスと静電・電磁複合レンズ設計を実現。
これらの進歩により、空間帯電効果が低減され、レンズ収差が最小限に抑えられ、低電圧での画像解像度が向上し、1 kV で 1.2 nm の解像度が達成され、非導電性または半導体サンプルの直接観察が可能になり、サンプルの照射による損傷が効果的に低減されます。
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「スーパートンネル」電子光学コラム技術/レンズ内ビーム減速
空間充電効果を低減し、低電圧解像度を確保します。
★電子ビーム経路におけるクロスオーバーフリー
レンズの収差を効果的に低減し、解像度を向上します。
★電磁・静電複合対物レンズ
収差を低減し、低電圧での解像度を大幅に向上し、磁性サンプルの観察を可能にします。
★水冷式恒温対物レンズ
対物レンズ動作の安定性、信頼性、再現性を確保します。
★ 電磁ビーム偏向システムを備えた可変多孔絞り
機械的な動作なしで絞りを自動的に切り替えるため、撮影モードを素早く切り替えることができます。
「電子チャネリング効果」とは、入射電子ビームがブラッグ回折条件を満たし、多数の電子が格子を通過することで「チャネリング」効果を示し、結晶格子による電子散乱が大幅に減少することを指します。
均一な組成と研磨された平坦な表面を持つ多結晶材料の場合、反射電子の強度は入射電子線と結晶面の相対的な配向に依存します。配向のばらつきが大きい粒子は強い信号を示すため、より明るい画像が得られ、このような粒子配向マップによって定性的な特性評価が可能になります。
>> 複数の動作モード: 明視野（BF）イメージング、暗視野（DF）イメージング、高角環状暗視野（HAADF）イメージング
>> エネルギー分散分光法
>> カソードルミネッセンス
>> EBSD
>> 材料科学 - ナノ材料
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CIQTEK SEM5000Pro FE-SEM の STEM 検出器を使用したトカゲ皮膚細胞の虹彩細胞の特性評価。
自然界の動物の色は、その形成メカニズムに基づいて、色素色と構造色の 2 つのカテゴリに分類できます。
顔料の色は、「原色」の原理と同様に、顔料の組成の変化と色の重なりによって実現されます。
一方、構造色は、主に光学原理に基づいた複雑な生理学的構造によって、異なる波長の光が反射されることで生成されます。トカゲの皮膚細胞に見られる虹彩色素は、回折格子に似た構造を有しています。この構造は「結晶板」と呼ばれています。結晶板は、異なる波長の光を反射・散乱させることができます。研究により、トカゲの虹彩色素の結晶板のサイズ、間隔、角度を変えることで、皮膚で散乱・反射される光の波長を変化させることができることが示されています。この発見は、トカゲの皮膚の色の変化のメカニズムを理解する上で重要です。
CIQTEK SEM 顕微鏡ソフトウェアは、さまざまな種類の粒子および細孔サンプルに適したさまざまなターゲット検出およびセグメンテーション アルゴリズムを採用しています。粒子および細孔統計の定量分析を可能にし、材料科学、地質学、環境科学などの分野に適用できます。
電子顕微鏡で撮影した画像に対してオンラインまたはオフラインの画像後処理を実行し、一般的に使用される EM 画像処理機能、便利な測定ツール、注釈ツールを統合します。
線幅エッジの自動認識により、より正確な測定と高い一貫性を実現します。ライン、スペース、ピッチなど、複数のエッジ検出モードに対応しています。複数の画像形式に対応し、一般的な画像後処理機能も豊富に搭載しています。使いやすく、効率的で、精度の高いソフトウェアです。
画像取得、動作条件設定、電源オン/オフ、ステージ制御など、SEM顕微鏡を制御するための一連のインターフェースを提供します。簡潔なインターフェース定義により、特定の電子顕微鏡操作スクリプトとソフトウェアを迅速に開発でき、関心領域の自動追跡、産業オートメーションデータの取得、画像ドリフト補正などの機能を実現できます。珪藻類分析、鋼鉄不純物検査、清浄度分析、原材料管理などの専門分野のソフトウェア開発に使用できます。
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CIQTEK FESEM顕微鏡SEM5000Proの仕様 |
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| 電子光学 | 解決 |
0.8 nm @ 15 kV、SE 1.2 nm @ 1.0 kV、SE |
| 加速電圧 | 0.02kV～30kV | |
| 拡大（ポラロイド） | 1～2,500,000倍 | |
| 電子銃型 | ショットキー電界放出電子銃 | |
| 標本室 | カメラ | デュアルカメラ（光学ナビゲーション＋チャンバーモニター） |
| ステージ範囲 |
X: 110 mm、Y: 110 mm、Z: 65 mm 北緯: -10°～ +70°、南緯: 360° |
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| SEM検出器と拡張機能 | 標準 |
インレンズ電子検出器 エバーハート・ソーンリー検出器（ETD） |
| オプション |
格納式反射電子検出器（BSED） 伸縮式走査透過電子顕微鏡（STEM） 低真空検出器（LVD） エネルギー分散型分光法（EDS / EDX） 電子後方散乱回折パターン（EBSD） 試料交換用ロードロック（4インチ/8インチ） トラックボールとノブのコントロールパネル |
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| ソフトウェア | 言語 | 英語 |
| オペレーティング·システム | ウィンドウズ | |
| ナビゲーション | 光学ナビゲーション、ジェスチャークイックナビゲーション、トラックボール（オプション） | |
| 自動機能 | 自動明るさ・コントラスト、自動フォーカス、自動非点補正 | |
Ga+集束イオンビーム電界放出走査電子顕微鏡 その CIQTEK DB550 集束イオンビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM） ナノ分析および試料作製用の集束イオンビームカラムを備えています。「スーパートンネル」電子光学技術、低収差、非磁性対物レンズ設計を採用し、「低電圧・高分解能」という特長により、ナノスケールの分析能力を確保しています。 イオンカラムは、Ga+液体金属イオン源から高安定性・高品質イオンビームを供給し、ナノファブリケーション能力を実現します。DB550は、ナノマニピュレーター、ガスインジェクションシステム、そしてユーザーフレンドリーなGUIソフトウェアを統合したオールインワンのナノ分析・ファブリケーションワークステーションです。
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分析的 ショットキー 電界放出走査電子顕微鏡（FESEM） CIQTEK SEM4000Pro 高輝度・長寿命のショットキー電界放出電子銃を搭載した分析用FE-SEMモデルです。3段電磁レンズ設計により、EDS/EDX、EBSD、WDSなどの分析アプリケーションにおいて大きなメリットを提供します。低真空モードと高性能低真空二次電子検出器に加え、格納式反射電子検出器を標準装備しており、導電性の低い試料や非導電性試料の観察に便利です。
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高性能・汎用タングステンフィラメントSEM 顕微鏡 その CIQTEK SEM3200 SEM顕微鏡 SEM3200は、優れた総合性能を備えた汎用性の高いタングステンフィラメント走査型電子顕微鏡（SEM）です。独自のデュアルアノード電子銃構造により、低励起電圧でも高解像度を実現し、画像S/N比を向上させます。さらに、豊富なオプションアクセサリが用意されているため、SEM3200は優れた拡張性を備えた多用途の分析装置となっています。
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CIQTEKを読む SEM 顕微鏡 顧客の洞察とl SEM 業界のリーダーとしての CIQTEK の強みと実績について詳しくご覧ください。 メールアドレス: info@ciqtek.com
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