epr spectrometer modernization

EPR分光計の近代化とアップグレード

最先端のEPR研究のために古いEPR機器を近代化・アップグレードしましょう

このEPR近代化およびアップグレードサービスでは、次のような機能が提供されます。 :

高感度: 超低ノイズマイクロ波源および信号検出技術

より良い解像度: 精密磁場制御技術

優れた互換性: 幅広いEPR分光計と互換性あり

迅速な配送: 最新化されたハードウェアを2~6ヶ月以内に納品

高品質なサービス: オンサイト設置と2年間の保証

★ 詳細についてはメールでお問い合わせください: info@ciqtek.com

▶ CIQTEK EPR分光計 近代化とアップグレード 経路


マイクロ波ブリッジ

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade -  CW Microwave Bridge Features

CWマイクロ波ブリッジの機能

Xバンド

• マイクロ波周波数範囲:9.2~9.9GHz
• レベルモードでの最大出力マイクロ波電力:200 mW
• マイクロ波減衰器: 0~60 dB(1 dBステップ)
• 自動および手動のチューニングをサポート
• Qバンドへの近代化が可能
• サイズ: 85 × 62 × 18 cm

Qバンド

• マイクロ波周波数: 33.7~34.4 GHz
• 最大出力マイクロ波電力:100 mW
• マイクロ波減衰器: 0~50 dB
• サイズ: 65 × 62 × 20 cm

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade -  Pulsed microwave amplifier features

パルスマイクロ波増幅器の特長

ソリッドステートアンプは、進行波管アンプと同様の直線性と相互変調歪みを備えています。しかし、小型で長寿命であり、高電圧電源や定期的な動作を必要としません。

Xバンド

• マイクロ波増幅器出力:500 W
• サイズ: 43 x 35 x 15 cm

Qバンド

• ソリッドステートパワーアンプ出力:200 W
• サイズ: 45 × 40 × 16 cm


▶ EPR 分光計コンソールと磁気電源

CWパーツの特徴

1. 磁場コントローラ: サンプル領域における磁場安定性:10 mG/時間;動作範囲:-0.1~1.8 T

2. デジタルロックイン検出

3. 超安定マグネット電源

4. 変調周波数範囲: 0.5~120 kHz

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade -  Pulsed Part features

パルス部品の特徴

データ収集ユニット

• チャンネル数: 2
• サンプリングレート: 1 GHz
• 内部および外部トリガーモードをサポート

パルスジェネレータ

• 12のデジタルチャンネル
• 時間分解能: 0.05 ns

共振器

高Q共振器

1. 空洞共振周波数:9.5~9.9GHz

2. 無負荷Q ≥ 16,000(臨界結合)

3. 最大変調磁場振幅:20ガウス

4. 窒素およびヘリウムの可変tと互換性がある 温度システム

5. オートチューン利用可能

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade - High-Q Resonator

共振器幅:50 mm
光学窓:Ø 5 mm、光ファイバー対応
最大サンプルアクセス径: Ø 10 mm


デュアルモード共振器

1. 空洞共振周波数:9.6~10GHz(垂直モード)、9.4~9.8GHz(平行モード)

2. 最大変調磁場振幅:10ガウス

3. 窒素およびヘリウムの可変tと互換性がある 温度システム

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade -  Dual Mode Resonator

共振器幅: 46 mm
光学窓:Ø5mm、光ファイバー対応
最大サンプルアクセス径: Ø 10 mm


PW-4201-DR パルス共振器

1. 空洞共振周波数:9.4~9.8GHz

2. 共振器帯域幅:400 ± 40 MHz

3. 検出デッドタイム: ≤ 100 ns

4. 窒素およびヘリウム可変温度システムに対応

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade - PW-4201-DR Pulsed Resonator

サンプルロッド: 423 mm
光学窓:5 × 12.5 mm
フランジ:KF50
使用可能なサンプルチューブの直径: 外径3 mmまたは4 mm


ENDORパルス共振器

1. 空洞共振周波数:9.4~9.8GHz

2. 共振器帯域幅:400 ± 40 MHz

3. 検出デッドタイム: ≤ 100 ns

4. 窒素およびヘリウム可変温度システムに対応

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade - ENDOR Pulsed Resonator

サンプルロッド: 423 mm
光学窓:5 × 12.5 mm
フランジ:KF50
使用可能なサンプルチューブの直径: 外径3 mmまたは4 mm


極低温システム

液体ヘリウム連続フロー極低温システム

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade - Liquid Helium Continuous-Flow Cryogenics System

制御可能な温度範囲(サンプルエリア):標準:4.4~300 K、オプション:3.2~300 K

温度安定性: ± 0.1 K (液体ヘリウム温度域内)
急速冷却:冷却時間 < 30 分
液体ヘリウムの損失が少ない
簡単なインストール


液体ヘリウムフリードライクライオシステム

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade - Liquid Helium-free Dry Cryogenic System

サンプルエリアの制御可能な温度範囲:4~300 K
温度安定性: ± 0.1 K (液体ヘリウム温度域内)
より広い温度制御範囲
安定して簡単な操作
サンプル交換後の急速な温度回復(<30分)
極めて低い運用コスト


液体窒素可変温度システム

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade - Liquid Nitrogen Variable Temperature System

サンプルエリアの制御可能な温度範囲:93~573 K
温度安定性: ± 0.2 K
急速冷却:冷却時間 < 30 分
高温試験に対応

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