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タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡 | SEM2000

CIQTEK SEM2000 は、基本的で多用途な分析用タングステン フィラメント走査型電子顕微鏡で、20 kV の分解能、最大 3.9 nm までの分解能を備え、30 kV までのアップグレードをサポートしており、サブミクロスケールのサンプルの微細構造情報の観察が可能です。

デスクトップ/ベンチトップ SEM よりも広い可動範囲を備えています。サンプルの迅速なスクリーニングに適しており、BSED、EDS/EDX、およびその他のアクセサリ用の拡張インターフェースを備えており、より幅広いアプリケーションを可能にします。

  • 解決
    3.9nm@20kV
  • 加速電圧
    0.5~20kV(オプションで30kV)
  • 倍率
    1~300,000倍

 

シンプルなユーザーインターフェース

明確でシンプルなインターフェース

機能はシンプルで操作も簡単です。初心者でもすぐに学習してすぐに始めることができます。

高度な自動化機能

自動輝度コントラスト、オートフォーカス、自動画像分散はすべてワンクリックで調整できます。

充実した測定機能

長さ、面積、真円度、角度などの計測機能を備えた写真の管理、プレビュー、編集機能。


 

注目の機能

光学式ナビゲーション

見たい場所をクリックするだけで簡単に移動できます。

標準の光学ナビゲーション カメラにより、高解像度のサンプル ステージ写真と迅速なサンプル位置決めが可能です。

 

 

衝突防止

初心者に優しい衝突防止設計により、敏感なユニットを最大限に保護します。

 

ワンクリックイメージング

※ワンクリックイメージングで簡単に操作できます。

 

 

作動距離

最適な分析距離と画像距離が 1 つになり、高品質のパフォーマンスを簡単に体験できます。

 

 

複数の情報を同時にイメージング

このソフトウェアは、ハイブリッド イメージングの SE と BSE 間のワンクリック切り替えをサポートしています。サンプルの形態情報と組成情報を同時に観察できます。

 

解像度インジケーター

 

多用途の検出器

高感度後方散乱検出器

・マルチチャンネルイメージング

検出器はコンパクトな設計で高感度です。4分割設計により、試料を傾ける必要がなく、さまざまな方向の影像や組成分布像が得られます。

 

 

・二次電子(SE)イメージングと反射電子(BSE)イメージングの比較

反射電子イメージング モードでは、電荷効果が大幅に減少し、サンプル表面の組成に関するより多くの情報を取得できます。

 

 

エネルギースペクトル

金属介在物のエネルギースペクトルの表面スキャン分析の結果。

 

 

 

後方散乱電子回折 (EBSD)

大ビーム電流を備えたタングステン フィラメント電子顕微鏡は、高解像度 EBSD の試験要件を完全に満たしており、金属、セラミック、鉱物などの多結晶材料を分析して結晶方位の校正や粒径を分析することができます。

この図は、Ni 金属試料の EBSD 対蹠マップを示しています。これにより、粒径と方位を特定し、粒界と双晶を特定し、材料の組織と構造を正確に判断できます。

 

電気光学システム 電子銃 整列済みの中型フォーク型タングステン フィラメント
解決

3.9 nm @ 20 kV (SE)

4.5 nm @ 20 kV (BSE)

倍率 1倍~30万倍
加速電圧 0.5kV~20kV
イメージングシステム 検出器

二次電子検出器 (ETD)

※反射電子検出器(BSED)、※エネルギー分光器EDSなど

画像フォーマット TIFF、JPG、BMP、PNG
真空システム 高真空 5×10 -4 Pa以上
制御モード 全自動制御システム
パンプス メカニカルポンプ×1、分子ポンプ×1
サンプルチャンバー カメラ 光学式ナビゲーション
サンプルテーブル 2軸自動
距離

X:100mm

Y:100mm

ソフトウェア オペレーティング·システム ウィンドウズ
ナビゲーション 光学式ナビゲーション、ジェスチャークイックナビゲーション
自動機能 自動輝度コントラスト、自動フォーカス、自動消散
特別な機能 インテリジェント支援分散、*大規模画像スティッチング (オプションのアクセサリ)
インストール要件 空間 長さ ≥ 3000 mm、幅 ≥ 4000 mm、高さ ≥ 2300 mm
温度 20°C (68°F) ~ 25°C (77°F)
湿度 ≤ 50%
電源 AC220V(±10%)、50Hz、2kVA
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