安定性、汎用性、柔軟性、効率性
その CIQTEK SEM4000X 安定性、汎用性、柔軟性、効率性に優れています 電界放出走査電子顕微鏡（FE-SEM） 1.9nm@1.0kVの分解能を実現し、様々な種類の試料における高解像度イメージングの課題を容易に解決します。超ビーム減速モードを追加することで、低電圧分解能をさらに向上させることができます。
この顕微鏡はマルチ検出器技術を採用しており、インカラム電子検出器（UD）はSE信号とBSE信号を検出できると同時に高解像度を実現します。チャンバーに搭載された電子検出器（LD）は、結晶シンチレータと光電子増倍管を内蔵し、高感度・高効率を実現し、優れた画質の立体画像を提供します。グラフィカルユーザーインターフェースは使いやすく、自動輝度・コントラスト調整、オートフォーカス、自動非点補正、自動アライメントなどの自動化機能を備えており、超高解像度画像を迅速に取得できます。
CIQTEK SEM 顕微鏡ソフトウェアは、さまざまな種類の粒子および細孔サンプルに適したさまざまなターゲット検出およびセグメンテーション アルゴリズムを採用しています。粒子および細孔統計の定量分析を可能にし、材料科学、地質学、環境科学などの分野に適用できます。
電子顕微鏡で撮影した画像に対してオンラインまたはオフラインの画像後処理を実行し、一般的に使用される EM 画像処理機能、便利な測定ツール、注釈ツールを統合します。
線幅エッジの自動認識により、より正確な測定と高い一貫性を実現します。ライン、スペース、ピッチなど、複数のエッジ検出モードに対応しています。複数の画像形式に対応し、一般的な画像後処理機能も豊富に搭載しています。使いやすく、効率的で、精度の高いソフトウェアです。
画像取得、動作条件設定、電源オン/オフ、ステージ制御など、SEM顕微鏡を制御するための一連のインターフェースを提供します。簡潔なインターフェース定義により、特定の電子顕微鏡操作スクリプトとソフトウェアを迅速に開発でき、関心領域の自動追跡、産業オートメーションデータの取得、画像ドリフト補正などの機能を実現できます。珪藻類分析、鋼鉄不純物検査、清浄度分析、原材料管理などの専門分野のソフトウェア開発に使用できます。
| CIQTEK SEM4000X FESEM顕微鏡の仕様 | ||
| 電子光学 | 解決 |
0.9 nm@ 30 kV、SE
1.2 nm@15 kV、南東 1.9 nm@1 kV、SE 1.5 nm@1 kV（超ビーム減速） 1 nm@15 kV（超ビーム減速） |
| 加速電圧 | 0.2 kV～30 kV | |
| 拡大（ポラロイド） | 1 ~ 1,000,000 x | |
| 電子銃型 | ショットキー電界放出電子銃 | |
| 標本室 | カメラ | デュアルカメラ（光学ナビゲーション + チャンバーモニタリング） |
| ステージ範囲 |
X: 110 mm Y: 110 mm Z: 65 mm 温度: -10°~ +70° 右: 360° |
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| SEM検出器と拡張機能 | 標準 |
レンズ内電子検出器：UD-BSE/UD-SE エバーハート・ソーンリー検出器: LD |
| オプション |
後方散乱電子検出器（BSED） 格納式走査透過電子顕微鏡検出器（STEM） 低真空検出器（LVD） エネルギー分散型分光計（EDS / EDX） 電子後方散乱回折パターン（EBSD） 試料交換ロードロック（4インチ/8インチ） トラックボールとノブのコントロールパネル 超ビーム減速モード技術 |
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| ユーザーインターフェース | 言語 | 英語 |
| OS | ウィンドウズ | |
| ナビゲーション | 光学ナビゲーション、ジェスチャークイックナビゲーション、トラックボール（オプション） | |
| 自動機能 | 自動明るさ・コントラスト、自動フォーカス、自動非点補正 | |
Ga+集束イオンビーム電界放出走査電子顕微鏡 その CIQTEK DB550 集束イオンビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM） ナノ分析および試料作製用の集束イオンビームカラムを備えています。「スーパートンネル」電子光学技術、低収差、非磁性対物レンズ設計を採用し、「低電圧・高分解能」という特長により、ナノスケールの分析能力を確保しています。 イオンカラムは、Ga+液体金属イオン源から高安定性・高品質イオンビームを供給し、ナノファブリケーション能力を実現します。DB550は、ナノマニピュレーター、ガスインジェクションシステム、そしてユーザーフレンドリーなGUIソフトウェアを統合したオールインワンのナノ分析・ファブリケーションワークステーションです。
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超高解像度電界放出走査電子顕微鏡（FESEM） その CIQTEK SEM5000X は、最適化された電子光学カラム設計を採用した超高分解能FESEMです。全体的な収差を30%低減し、0.6nm@15kVおよび1.0nm@1kVという超高分解能を実現しています。高い分解能と安定性により、先端ナノ構造材料研究やハイテクノードの半導体ICチップの開発・製造において優位性を発揮します。
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高性能・汎用タングステンフィラメントSEM 顕微鏡 その CIQTEK SEM3200 SEM顕微鏡 SEM3200は、優れた総合性能を備えた汎用性の高いタングステンフィラメント走査型電子顕微鏡（SEM）です。独自のデュアルアノード電子銃構造により、低励起電圧でも高解像度を実現し、画像S/N比を向上させます。さらに、豊富なオプションアクセサリが用意されているため、SEM3200は優れた拡張性を備えた多用途の分析装置となっています。
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CIQTEKを読む SEM 顕微鏡 顧客の洞察と SEM 業界のリーダーとしての CIQTEK の強みと実績について詳しくご覧ください。 メールアドレス: info@ciqtek.com
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