電界放出型TEM | TH-F120

120kV 電界放射型透過電子顕微鏡 (TEM) １．分割されたワークスペース: ユーザーは、TEM への環境干渉を軽減する分割された部屋で快適に TEM を操作できます。 ２．高い運用効率: 指定されたソフトウェアは高度に自動化されたプロセスを統合し、リアルタイム監視による効率的な TEM インタラクションを可能にします。 ３．アップグレードされた操作体験: 高度に自動化されたシステムを備えた電界放出型電子銃を搭載。 ４．高い拡張性: ユーザーがより上位の構成にアップグレードできるように、さまざまなアプリケーション要件を満たす十分なインターフェイスが確保されています。

Ga+集束イオンビーム電界放出走査電子顕微鏡 その CIQTEK DB550 集束イオンビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM） ナノ分析および試料作製用の集束イオンビームカラムを備えています。「スーパートンネル」電子光学技術、低収差、非磁性対物レンズ設計を採用し、「低電圧・高分解能」という特長により、ナノスケールの分析能力を確保しています。 イオンカラムは、Ga+液体金属イオン源から高安定性・高品質イオンビームを供給し、ナノファブリケーション能力を実現します。DB550は、ナノマニピュレーター、ガスインジェクションシステム、そしてユーザーフレンドリーなGUIソフトウェアを統合したオールインワンのナノ分析・ファブリケーションワークステーションです。

高速 完全自動化フィールドエミッション 走査型電子顕微鏡 ワークステーション CIQTEK HEM6000 高輝度大ビーム電流電子銃、高速電子ビーム偏向システム、高電圧サンプルステージ減速、ダイナミック光軸、液浸電磁静電コンボ対物レンズなどの設備技術を採用し、ナノスケールの解像度を確保しながら高速画像取得を実現します。 自動化された操作プロセスは、より効率的でスマートな大面積高解像度イメージングワークフローなどの用途向けに設計されています。そのイメージング速度は、従来の電界放出走査電子顕微鏡（FESEM）の5倍以上です。

超高解像度電界放出走査電子顕微鏡（FESEM） その CIQTEK SEM5000X は、最適化された電子光学カラム設計を採用した超高分解能FESEMです。全体的な収差を30%低減し、0.6nm@15kVおよび1.0nm@1kVという超高分解能を実現しています。高い分解能と安定性により、先端ナノ構造材料研究やハイテクノードの半導体ICチップの開発・製造において優位性を発揮します。

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