EASY-V 1440 は、CIQTEK が独自に開発した静的容積法を用いた BET 比表面積・細孔径分析装置です。
▪ 比表面積試験、範囲 0.0005 (m 2 /g) 以上。
▪ 細孔サイズ分析: 2 nm ～ 500 nm。
▪ 4 つの分析ステーション、4 つのサンプルの同時検査。
・2段真空ポンプを搭載しています。
♦ 安全で安定した組み込みテストコンピュータ。10 インチの静電容量式タッチ スクリーン、タブレット制御エクスペリエンス。
♦ ステッピングモーターによって制御されるボールネジ一体型昇降システムは、詰まりやすい一般的なネジタイプの欠点を克服します。
♦ 保護安全ドアは、低温液体窒素との偶発的な接触によって引き起こされる安全事故を防止し、テストに対する環境要因の影響を排除します。
♦ 4L ステンレス鋼製インナーデュワー瓶はガラスデュワー瓶の壊れやすい欠点を克服し、高い断熱性により 72 時間以上の連続試験要件を保証します。
黒鉛、リン酸鉄リチウム、マンガン酸リチウム、コバルト酸リチウム、三元系材料、その他正負材料。
カーボンブラック、ホワイトカーボンブラック、二酸化チタン、アルミナ、モレキュラーシーブ触媒、樹脂、炭素繊維など
モンモリロナイト粉末; ステアリン酸マグネシウム、微粉末シリカゲル、タルクおよびその他の潤滑剤; デンプンや砂糖などの希釈剤。水酸化アルミニウムおよびその他の医薬品賦形剤。
松、活性炭、竹炭、ケミカルカーボン、ゼオライトモレキュラーシーブなど
MOF材料、カーボンナノチューブ、グラフェンなど
酸化マグネシウム、ジルコニア、酸化カルシウム、金属粉、セラミックス、鉱物粉等
> テスト機能:
静的体積原理、吸脱着等温線測定、単一点および多点BET法、ラングミュア法、BJH全細孔容積および細孔径分布解析、DRおよびDA充填理論、tプロット外表面積測定、真密度測定; 強力なオンラインデータ分析システムと比表面積および細孔径分布試験システムにより、より安定した正確な試験データを確保します。
> テスト範囲:
0.0005(m2/g)～上限不明(比表面積)。2nm～500nm。
> テスト精度:
比表面積の再現性誤差 ≤±1.0%。
>サンプル番号:
4 つのサンプルが同時にテストされ、4 つのサンプルの脱気処理 (オプション)、サンプル テスト システム、およびサンプル処理システムは独立しています。
サンプルテストとサンプル処理を同時に実行できるため、テストパイプラインの汚染が回避され、テストの精度がさらに確保され、機器の耐用年数が向上します。
> テストモード:
「単一窒素テストモード」と「窒素+ヘリウム標準テストモード」を統合し、顧客が実際のニーズに応じて選択できるようにします。
国際標準に準拠した「窒素+ヘリウム標準テストモード」は、結果の精度と一貫性を保証し、操作が簡単です。
低温でヘリウムを吸着する可能性があるサンプルの場合、ヘリウムガスは自由空間の測定には適していません。「単一窒素試験モード」では、希望通りの試験結果が得られます。
> サンプルデガッサーの紹介
さまざまなサンプル処理要件に応じて、25°C (77°F) ～ 400°C (752°F) の間でサンプルを柔軟に加熱します。サンプルデガッサーはサンプルから水分を除去して乾燥させることができます。
サンプルの加熱中に、処理システムをオプションで排気して、サンプル粒子の表面に吸着した不純物を効果的に除去し、材料のより清浄な処理を達成することができます。
空気と接触させるべきではないサンプルの場合、必要に応じて処理中に保護ガスを注入して、サンプルを空気から完全に隔離することができます。
サンプル処理後、保護ガスを冷却プロセスに流し、処理済みサンプルの隔離と保護を実現します。
粒子表面に水分や不純物が多いサンプルの場合、気流の作用によって保護ガスを注入してサンプル表面をパージする機能を実現できます。これにより、不純物や水分をより迅速かつ完全に除去できます。
デジタル圧力測定およびデータ収集システム
- デジタル出力を備えた圧力および温度センサーは、アナログ出力を備えた同様の製品に比べて 2 倍の精度があり、より強力な抗干渉能力を備えています。
- 工業標準の RS485 または RS232 通信モード。センサーは通信バス上にオンデマンドで追加され、高い拡張性を備えています。
- マルチレンジ圧力センサーと高精度圧力センサーの断面測定により、微細孔測定間隔での低圧測定の精度が保証されます。
統合真空パイプラインシステム
- 統合されたコンテナ真空パイプラインシステムは、パイプラインの接続ポイントを効果的に減らし、システムの到達真空度を向上させることができます。
- コンパクトな統合システムにより、温度均一性が向上し、デッドボリュームスペースが削減され、テスト精度が効果的に向上します。
- パネルタイプの部品取り付け方法、スペア部品を個別に分解できるため、取り付けやメンテナンスに便利です。
インテリジェントなテストソフトウェア
- サンプル処理機能をテストソフトウェアに統合し、完全な自動化を実現します。サンプル処理時間、異なる処理温度の組み合わせ、サンプル処理遅延などの機能を柔軟に設定できるため、夜間の自動サンプル処理が実現し、検査効率が向上します。
- データ処理ソフトウェアは、完璧な機能と簡単な操作、ユーザーフレンドリーなインターフェイス、詳細なテストデータ記録、およびさまざまな完璧なデータ処理モードを備えています。
- テスト ソフトウェアは、すべての Windows オペレーティング システムおよび将来の Windows オペレーティング システムと自動的に互換性のある強力な互換性を備えた高度な Microsoft テクノロジのネット ソフトウェア開発プラットフォームを採用しています。
EASY-V 3220 & 3210 は、CIQTEK が独自に開発した静的容積法を用いた BET 比表面積および細孔径分析装置です。 ▪ 比表面積試験、範囲 0.0005 (m 2 /g) 以上。 ▪ 細孔サイズ分析: 0.35 nm ～ 2 nm (微細孔)、微細孔サイズ分布分析。2 nm ～ 500 nm (メソ細孔またはマクロ細孔)。 ▪ 2 つの分析ステーション。EASY-V 3220: 2 つのサンプルの同時テスト。EASY-V 3210: 2 つのサンプルの交互テスト。 ・分子ポンプを搭載。
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EASY-V 1220は、CIQTEKが独自に開発した静的容積法を用いたBET比表面積・細孔径分析装置です。 ▪ 比表面積試験、範囲 0.0005 (m 2 /g) 以上。 ▪ 細孔サイズ分析: 2 nm ～ 500 nm。 ▪ 2 つの分析ステーション、2 つのサンプルの同時検査。 ・2段真空ポンプを搭載しています。
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EASY-V 3440 は、CIQTEK が独自に開発した静的容積法を用いた BET 比表面積・細孔径分析装置です 。 ▪ 比表面積試験、範囲 0.0005 (m 2 /g) 以上。 ▪ 細孔サイズ分析: 0.35 nm ～ 2 nm (微細孔)、微細孔サイズ分布分析。2 nm ～ 500 nm (メソ細孔またはマクロ細孔)。 ▪ 4 つの分析ステーション、4 つのサンプルの同時検査。 ・分子ポンプを搭載。
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EASY-G 1310は、CIQTEKが独自に開発したガス置換法を採用した高精度ガス比重計です。 高集積、小型・軽量、多検体容器設計による高いコストパフォーマンスでユーザー様にご好評いただいております。いくつかの画期的なテクノロジーは、高精度で再現性のあるテスト結果をもたらします。 CIQTEK EASY-G 1310 は、粉末、バルク固体、発泡体などのさまざまな材料の真密度と気孔率を高いテスト効率で迅速かつ正確に測定でき、迅速な製品品質テストのために工業生産ラインで広く使用できます。
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高圧高温ガス吸着分析装置 EASY-H 2210 および EASY-H 2420 は、CIQTEK が独自に開発した静的容積法を採用した高性能吸脱着等温線試験装置です。 高圧高温ガス吸着分析装置 EASY-H 2210 および EASY-H 2420 は、CIQTEK が独自に開発した静的容積法を採用した高性能の吸脱着等温線試験装置です。
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高圧高温ガス吸着分析装置 EASY-H 1210 および EASY-H 1420 は、CIQTEK が独自に開発した静的容積法を採用した高性能の吸脱着等温線試験装置です。 等温温度と圧力の範囲をテストして、多くの研究分野のニーズを満たすことができます。この製品は、高温高圧吸着試験機能と独自のPCT等温線および水素吸脱着圧力プラットフォームを備えており、希土類合金材料の水素貯蔵産業、シェールガス、炭層メタンの吸着研究に広く使用できます。石油探査およびガス分離およびその他の分野。また、触媒、モレキュラーシーブ、活性炭などの一部の吸着材料の吸着性能の理解、燃料電池、カーボンナノチューブ、グラフェンの研究にも重要です。
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