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高速・高解像度の3D再構成:CIQTEK体積電子顕微鏡ソリューションが生物学的特性評価の新たな次元を切り開きます
ライフサイエンス分野では、細胞や組織などの生物学的サンプルの高精度かつ大規模な3D構造・動的解析を実現することが、研究のボトルネックを打破する鍵となっています。 CIQTEK を導入しました マルチテクノロジールート 体積電子顕微鏡(VEM) ソリューション、統合 SS-SEM、SBF-SEM、および FIB-SEM これにより、生物学的3D再構築のための万能で高性能なインテリジェントプラットフォームが提供され、研究者が生命のミクロレベルの謎を解明するのに役立ちます。
01. SS-SEM高速イメージング 外部連続切片とCIQTEKを組み合わせることで 高速HEM6000-バイオSEM このソリューションは、大容量サンプルの迅速なイメージングと自動データ取得を可能にします。データ取得効率は従来のSEMの5倍以上であり、24時間365日無人運転による高スループット運用をサポートします。
02. SBF-SEM のその場切片化 CIQTEKに基づいて 超高解像度SEM5000X 一体型ミクロトームを備えたこのアプローチは、in-situ 切片作製と画像化サイクルを実現します。シンプルな操作と高度な自動化を実現し、表面汚染を効果的に回避します。
03. FIB-SEM 高精度分析 このルートは、集束イオンビームと電子ビームを組み合わせたデュアルビームシステムを活用し、ナノスケールのZ軸分解能を実現し、細胞小器官や膜などの微細構造を解析します。物理的なスライス作業なしに、in-situ 3D再構成を可能にします。
CIQTEK VEMソリューションは、 AIアルゴリズム そして 多言語ソフトウェアプラットフォーム データ収集、画像の位置合わせ、セグメンテーションから3D可視化まで、ワークフロー全体をサポートします。主流の再構成ソフトウェアと互換性があるため、学習曲線が大幅に短縮されます。
応用事例は神経科学、細胞生物学、病原微生物学に及び、生命科学研究を推進する強力なツールを提供します。
ガ + 集束イオンビーム電界放出走査電子顕微鏡 その CIQTEK DB550 集束イオンビーム走査電子顕微鏡(FIB-SEM) ナノ分析および試料作製用の集束イオンビームカラムを備えています。「スーパートンネル」電子光学技術、低収差、非磁性対物レンズ設計を採用し、「低電圧・高分解能」という特長により、ナノスケールの分析能力を確保しています。 イオンカラムはGa + 極めて安定かつ高品質のイオンビームを発生する液体金属イオン源を搭載し、ナノファブリケーションを実現します。DB550は、ナノマニピュレーター、ガスインジェクションシステム、そしてユーザーフレンドリーなGUIソフトウェアを統合した、オールインワンのナノ分析・ファブリケーションワークステーションです。
高速 完全自動化フィールドエミッション 走査型電子顕微鏡 ワークステーション CIQTEK HEM6000 高輝度大ビーム電流電子銃、高速電子ビーム偏向システム、高電圧サンプルステージ減速、ダイナミック光軸、液浸電磁静電コンボ対物レンズなどの設備技術を採用し、ナノスケールの解像度を確保しながら高速画像取得を実現します。 自動化された操作プロセスは、より効率的でスマートな大面積高解像度イメージングワークフローなどの用途向けに設計されています。そのイメージング速度は、従来の電界放出走査電子顕微鏡(FESEM)の5倍以上です。
超高解像度電界放出走査電子顕微鏡(FESEM) その CIQTEK SEM5000X は、最適化された電子光学カラム設計を採用した超高分解能FESEMです。全体的な収差を30%低減し、0.6nm@15kVおよび1.0nm@1kVという超高分解能を実現しています。高い分解能と安定性により、先端ナノ構造材料研究やハイテクノードの半導体ICチップの開発・製造において優位性を発揮します。
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