CIQTEK は、 顕微鏡会議2025（MC2025） 、開催中 8月31日～9月4日 で カールスルーエ、ドイツ 。
弊社のウェブサイトはこちら ブース#28 メッセ・カールスルーエの展示エリアにて。
MC2025は、国際顕微鏡コミュニティにおける最も重要なイベントの一つです。 ドイツ電子顕微鏡学会（DGE）、オーストリア電子顕微鏡学会（ASEM）、スイス光学顕微鏡学会（SSOM）の共催 の後援を受けて 欧州顕微鏡学会（EMS） この会議では科学者、エンジニア、業界のリーダーが一堂に会し、イメージング技術、アプリケーション、テクニックの最新の進歩を共有します。
日時:
9月1日（月）17:10～17:20
位置：
メッセ・カールスルーエ会議場
トピック：
低kVでの優れた画像解像度を損なうことなく高速走査電子顕微鏡のパワーを解き放つ
このセッションでは、当社の上級電子顕微鏡エンジニアが、CIQTEK の最新の高速 SEM テクノロジーがどのようにして低い加速電圧で優れた画像解像度を実現し、材料科学、生命科学、ナノテクノロジー研究の飛躍的な進歩を可能にするかについて洞察を共有します。
MC2025で研究者、パートナー、そして業界関係者の皆様と交流できることを楽しみにしています。 ブース#28 当社の高度な電子顕微鏡ソリューションをご検討いただき、CIQTEK がお客様の業務をどのようにサポートできるかについてご相談ください。
カールスルーエでお会いしましょう！
高性能・汎用タングステンフィラメントSEM 顕微鏡 その CIQTEK SEM3200 SEM顕微鏡 SEM3200は、優れた総合性能を備えた汎用性の高いタングステンフィラメント走査型電子顕微鏡（SEM）です。独自のデュアルアノード電子銃構造により、低励起電圧でも高解像度を実現し、画像S/N比を向上させます。さらに、豊富なオプションアクセサリが用意されているため、SEM3200は優れた拡張性を備えた多用途の分析装置となっています。
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ガ + 集束イオンビーム電界放出走査電子顕微鏡 その CIQTEK DB550 集束イオンビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM） ナノ分析および試料作製用の集束イオンビームカラムを備えています。「スーパートンネル」電子光学技術、低収差、非磁性対物レンズ設計を採用し、「低電圧・高分解能」という特長により、ナノスケールの分析能力を確保しています。 イオンカラムはGa + 極めて安定かつ高品質のイオンビームを発生する液体金属イオン源を搭載し、ナノファブリケーションを実現します。DB550は、ナノマニピュレーター、ガスインジェクションシステム、そしてユーザーフレンドリーなGUIソフトウェアを統合した、オールインワンのナノ分析・ファブリケーションワークステーションです。
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超高解像度電界放出走査電子顕微鏡（FESEM） その CIQTEK SEM5000X は、最適化された電子光学カラム設計を採用した超高分解能FESEMです。全体的な収差を30%低減し、0.6nm@15kVおよび1.0nm@1kVという超高分解能を実現しています。高い分解能と安定性により、先端ナノ構造材料研究やハイテクノードの半導体ICチップの開発・製造において優位性を発揮します。
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No. 1969, Kongquetai Road, High-tech Zone, Hefei, Anhui, China
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