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CIQTEK社、米国で開催される鉱物・金属・材料学会(TMS)2026にて電子顕微鏡ソリューションを展示
CIQTEK 参加した TMS 2026 年次総会および展示会 2026年3月15日~19日に米国カリフォルニア州サンディエゴで開催されたイベントで、米国チームと現地の販売パートナーが来場者をお迎えしました。 ブース番号307 最新の 電子顕微鏡用溶液 材料科学への応用向け。
主催: 鉱物・金属・材料学会(TMS) この年次会議は、世界の材料科学コミュニティにとって重要なイベントです。冶金、先端材料、積層造形、特性評価技術などの分野で活躍する研究者、エンジニア、業界専門家が一堂に会します。
このイベントは、アイデアを交換し、新しい技術を発見し、材料の研究と生産における現実的な課題について議論するための強力なプラットフォームを提供する。
CIQTEKは、幅広い材料科学アプリケーションをサポートするように設計された電子顕微鏡ソリューションを展示した。
当社のシステムは以下のような用途に最適です。
金属および合金の微細構造解析
故障解析および欠陥調査
粉末および粒子の特性評価
積層造形と新素材の研究
多くの来場者は、CIQTEKシステムが操作の容易さを保ちながら、安定した画像性能を実現している点に特に興味を示していました。性能、使いやすさ、そして予算のバランスを重視する研究室にとって、この組み合わせは特に重要です。
また、画像処理効率の向上、ワークフローの簡素化、複雑なサンプルの取り扱いなど、ユーザーの皆様が日々直面している課題について、詳細な議論を重ねました。こうした対話を通して、当社のソリューションを実際のアプリケーションニーズにより的確に合致させることができました。
TMS 2026への参加は、CIQTEKが米国市場における電子顕微鏡事業を拡大するための広範な戦略の一環です。
当社では以下のサービスを提供しています。
A 米国を拠点とするデモセンター 実践的な評価のために
米国現地技術およびアプリケーションサポート
サービスとトレーニングへの対応を迅速化
当社は、研究者や業界ユーザーをより良くサポートするために、現地チーム、インフラ、パートナーシップへの投資を継続しています。競争力のある技術と地域密着型のサービスを組み合わせることで、CIQTEKは北米全域で高品質な電子顕微鏡をより身近なものにすることを目指しています。
米国チームに直接お問い合わせください。 info.usa@ciqtek.com
ガ + 集束イオンビーム電界放出走査電子顕微鏡 その CIQTEK DB550 集束イオンビーム走査電子顕微鏡(FIB-SEM) ナノ分析および試料作製用の集束イオンビームカラムを備えています。「スーパートンネル」電子光学技術、低収差、非磁性対物レンズ設計を採用し、「低電圧・高分解能」という特長により、ナノスケールの分析能力を確保しています。 イオンカラムはGa + 極めて安定かつ高品質のイオンビームを発生する液体金属イオン源を搭載し、ナノファブリケーションを実現します。DB550は、ナノマニピュレーター、ガスインジェクションシステム、そしてユーザーフレンドリーなGUIソフトウェアを統合した、オールインワンのナノ分析・ファブリケーションワークステーションです。
超高解像度 タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡 その CIQTEK SEM3300 走査型電子顕微鏡(SEM) 「スーパートンネル」電子光学系、インレンズ電子検出器、静電・電磁複合対物レンズなどの技術を採用しています。これらの技術をタングステンフィラメント顕微鏡に適用することで、長年のSEMの分解能限界を突破し、これまで電界放出型SEMでしか実現できなかった低電圧分析をタングステンフィラメントSEMで実行できるようになります。
超高解像度電界放出走査電子顕微鏡(FESEM) その CIQTEK SEM5000X は、最適化された電子光学カラム設計を採用した超高分解能FESEMです。全体的な収差を30%低減し、0.6nm@15kVおよび1.0nm@1kVという超高分解能を実現しています。高い分解能と安定性により、先端ナノ構造材料研究やハイテクノードの半導体ICチップの開発・製造において優位性を発揮します。
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