日本語
English
français
Deutsch
русский
italiano
español
português
العربية
한국의
简体中文
CIQTEK SEMソリューションがスペインで開催された第2回IESMAT電子顕微鏡デーで紹介されました
その 第2回IESMAT電子顕微鏡デー 2025年11月6日にスペインのマドリードで開催され、顕微鏡の専門家、研究者、専門家数十名が集まりました。 スペインとポルトガル このイベントは、知識を共有し、最新の顕微鏡技術を探り、イベリアの顕微鏡コミュニティ内のつながりを強化するための貴重なプラットフォームとして機能しました。
として CIQTEKのスペインとポルトガルにおける公式パートナー 、 IESMAT CIQTEK電子顕微鏡ソリューションに関する地域密着型のサポートと専門サービスを提供しています。今年は、このイベントは ポルトガル顕微鏡学会 科学界と産業界におけるその影響力をさらに拡大します。
会議中、IESMATは、 CIQTEKの電子顕微鏡製品ポートフォリオ の高度な機能とアプリケーションの利点を強調し、 CIQTEK SEMシリーズ . A ライブデモンストレーション CIQTEK タングステンフィラメント SEM3200 参加者は、高解像度の画像撮影機能と直感的な操作性を実際に体験することができました。ハンズオンセッションでは活発な議論が交わされ、多くの参加者がIESMATの専門家から直接技術的なアドバイスや実践的なアドバイスを受けました。
IESMATによるCIQTEK SEM3200のデモンストレーション
また、このイベントでは、材料科学、ナノテクノロジー、生命科学にわたる顕微鏡アプリケーションに関する一連の技術プレゼンテーションと公開ディスカッションも行われ、イベリア市場における高性能で使いやすい顕微鏡ツールへの関心と需要の高まりを反映しました。
今後、CIQTEKとIESMATは協力関係を深め、 最先端の電子顕微鏡技術 、 包括的な顧客サポート 、 そして 研修の機会 スペインとポルトガルの研究者や研究室へ。両社は協力して、入手しやすい高品質の機器を提供することで、科学的発見と革新を促進することを目指しています。
ガ + 集束イオンビーム電界放出走査電子顕微鏡 その CIQTEK DB550 集束イオンビーム走査電子顕微鏡(FIB-SEM) ナノ分析および試料作製用の集束イオンビームカラムを備えています。「スーパートンネル」電子光学技術、低収差、非磁性対物レンズ設計を採用し、「低電圧・高分解能」という特長により、ナノスケールの分析能力を確保しています。 イオンカラムはGa + 極めて安定かつ高品質のイオンビームを発生する液体金属イオン源を搭載し、ナノファブリケーションを実現します。DB550は、ナノマニピュレーター、ガスインジェクションシステム、そしてユーザーフレンドリーなGUIソフトウェアを統合した、オールインワンのナノ分析・ファブリケーションワークステーションです。
超高解像度 タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡 その CIQTEK SEM3300 走査型電子顕微鏡(SEM) 「スーパートンネル」電子光学系、インレンズ電子検出器、静電・電磁複合対物レンズなどの技術を採用しています。これらの技術をタングステンフィラメント顕微鏡に適用することで、長年のSEMの分解能限界を突破し、これまで電界放出型SEMでしか実現できなかった低電圧分析をタングステンフィラメントSEMで実行できるようになります。
高性能・汎用タングステンフィラメントSEM 顕微鏡 その CIQTEK SEM3200 SEM顕微鏡 SEM3200は、優れた総合性能を備えた汎用性の高いタングステンフィラメント走査型電子顕微鏡(SEM)です。独自のデュアルアノード電子銃構造により、低励起電圧でも高解像度を実現し、画像S/N比を向上させます。さらに、豊富なオプションアクセサリが用意されているため、SEM3200は優れた拡張性を備えた多用途の分析装置となっています。
超高解像度電界放出走査電子顕微鏡(FESEM) その CIQTEK SEM5000X は、最適化された電子光学カラム設計を採用した超高分解能FESEMです。全体的な収差を30%低減し、0.6nm@15kVおよび1.0nm@1kVという超高分解能を実現しています。高い分解能と安定性により、先端ナノ構造材料研究やハイテクノードの半導体ICチップの開発・製造において優位性を発揮します。
伝言を残す
家
製品
チャット
接触