CIQTEK SEM Solutions Highlighted at the 2nd IESMAT Electron Microscopy Day, Spain
The 2nd IESMAT Electron Microscopy Day was successfully held on November 6, 2025, in Madrid, Spain, bringing together dozens of microscopy experts, researchers, and professionals from Spain and Portugal. The event served as a valuable platform for sharing knowledge, exploring the latest microscopy technologies, and strengthening connections within the Iberian microscopy community.
As CIQTEK’s official partner in Spain and Portugal, IESMAT provides localized support and professional service for CIQTEK electron microscopy solutions in the region. This year, the event was also recognized by the Portuguese Society of Microscopy, further expanding its reach and influence among the scientific and industrial communities.
During the meeting, IESMAT presented an in-depth introduction to CIQTEK’s electron microscope product portfolio, highlighting advanced features and application advantages of the CIQTEK SEM series. A live demonstration using the CIQTEK Tungsten Filament SEM3200 allowed attendees to experience its high-resolution imaging capabilities and intuitive operation firsthand. The hands-on session sparked active discussions, with many participants engaging directly with IESMAT experts for technical insights and practical guidance.
IESMAT Demonstrating the CIQTEK SEM3200
The event also featured a series of technical presentations and open discussions on microscopy applications across materials science, nanotechnology, and life sciences, reflecting the growing interest and demand for high-performance, user-friendly microscopy tools in the Iberian market.
Looking ahead, CIQTEK and IESMAT will continue to deepen their collaboration to provide cutting-edge electron microscopy technologies, comprehensive customer support, and training opportunities to researchers and laboratories in Spain and Portugal. Together, they aim to empower scientific discovery and innovation through accessible, high-quality instrumentation.
ガ + 集束イオンビーム電界放出走査電子顕微鏡 その CIQTEK DB550 集束イオンビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM） ナノ分析および試料作製用の集束イオンビームカラムを備えています。「スーパートンネル」電子光学技術、低収差、非磁性対物レンズ設計を採用し、「低電圧・高分解能」という特長により、ナノスケールの分析能力を確保しています。 イオンカラムはGa + 極めて安定かつ高品質のイオンビームを発生する液体金属イオン源を搭載し、ナノファブリケーションを実現します。DB550は、ナノマニピュレーター、ガスインジェクションシステム、そしてユーザーフレンドリーなGUIソフトウェアを統合した、オールインワンのナノ分析・ファブリケーションワークステーションです。
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超高解像度電界放出走査電子顕微鏡（FESEM） その CIQTEK SEM5000X は、最適化された電子光学カラム設計を採用した超高分解能FESEMです。全体的な収差を30%低減し、0.6nm@15kVおよび1.0nm@1kVという超高分解能を実現しています。高い分解能と安定性により、先端ナノ構造材料研究やハイテクノードの半導体ICチップの開発・製造において優位性を発揮します。
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超高解像度 タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡 その CIQTEK SEM3300 走査型電子顕微鏡（SEM） 「スーパートンネル」電子光学系、インレンズ電子検出器、静電・電磁複合対物レンズなどの技術を採用しています。これらの技術をタングステンフィラメント顕微鏡に適用することで、長年のSEMの分解能限界を突破し、これまで電界放出型SEMでしか実現できなかった低電圧分析をタングステンフィラメントSEMで実行できるようになります。
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高性能・汎用タングステンフィラメントSEM 顕微鏡 その CIQTEK SEM3200 SEM顕微鏡 SEM3200は、優れた総合性能を備えた汎用性の高いタングステンフィラメント走査型電子顕微鏡（SEM）です。独自のデュアルアノード電子銃構造により、低励起電圧でも高解像度を実現し、画像S/N比を向上させます。さらに、豊富なオプションアクセサリが用意されているため、SEM3200は優れた拡張性を備えた多用途の分析装置となっています。
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