先端科学機器の大手プロバイダーであるCIQTEKは、 GSEM KOREAと協力して最先端のS走査電子顕微鏡（SEM）シリーズの操作と応用に焦点を当てた包括的なトレーニングプログラムを無事完了したことを発表しました。このトレーニングは8月7日から8日までCIQTEKアプリケーションセンターで行われ、さまざまな科学分野の高解像度イメージングに関するエージェントの専門知識を強化し、高度な機能に関する貴重な洞察を提供することを目的としていました。
このプログラムには、 CIQTEKの経験豊富なトレーナーと技術専門家のチームが参加し、参加者にSEM操作の複雑さを指導しました。参加者は、サンプルの準備技術、イメージング パラメータの最適化、データ分析手法についての知識を得て、高品質の画像を取得し、サンプルから貴重な情報を正確に抽出することができました。
CIQTEKの上級アプリケーション科学者である Lisa 博士は、 GSEM KOREAとのコラボレーションの成功に熱意を示し、次のように述べています。「 GSEM KOREAと提携して、この包括的なトレーニング プログラムを提供できることを大変嬉しく思います。このトレーニングを通じて、研究者がこれらの機器を効果的に活用するために必要なスキルを身に付けることを目指しました。」
CIQTEK は、科学の進歩を促進し、最先端の技術で研究者を支援することに尽力しています。トレーニング プログラムを組織し、 GSEM KOREAなどの大手企業と提携することで、 CIQTEK は知識の交換を促進し、科学研究における革新を促進し続けています。
分析的 ショットキー 電界放出走査電子顕微鏡（FESEM） CIQTEK SEM4000Pro 高輝度・長寿命のショットキー電界放出電子銃を搭載した分析用FE-SEMモデルです。3段電磁レンズ設計により、EDS/EDX、EBSD、WDSなどの分析アプリケーションにおいて大きなメリットを提供します。低真空モードと高性能低真空二次電子検出器に加え、格納式反射電子検出器を標準装備しており、導電性の低い試料や非導電性試料の観察に便利です。
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超高解像度 タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡 その CIQTEK SEM3300 走査型電子顕微鏡（SEM） 「スーパートンネル」電子光学系、インレンズ電子検出器、静電・電磁複合対物レンズなどの技術を採用しています。これらの技術をタングステンフィラメント顕微鏡に適用することで、長年のSEMの分解能限界を突破し、これまで電界放出型SEMでしか実現できなかった低電圧分析をタングステンフィラメントSEMで実行できるようになります。
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高性能・汎用タングステンフィラメントSEM 顕微鏡 その CIQTEK SEM3200 SEM顕微鏡 SEM3200は、優れた総合性能を備えた汎用性の高いタングステンフィラメント走査型電子顕微鏡（SEM）です。独自のデュアルアノード電子銃構造により、低励起電圧でも高解像度を実現し、画像S/N比を向上させます。さらに、豊富なオプションアクセサリが用意されているため、SEM3200は優れた拡張性を備えた多用途の分析装置となっています。
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120kV 電界放射型透過電子顕微鏡 (TEM) １．分割されたワークスペース: ユーザーは、TEM への環境干渉を軽減する分割された部屋で快適に TEM を操作できます。 ２．高い運用効率: 指定されたソフトウェアは高度に自動化されたプロセスを統合し、リアルタイム監視による効率的な TEM インタラクションを可能にします。 ３．アップグレードされた操作体験: 高度に自動化されたシステムを備えた電界放出型電子銃を搭載。 ４．高い拡張性: ユーザーがより上位の構成にアップグレードできるように、さまざまなアプリケーション要件を満たす十分なインターフェイスが確保されています。
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超高解像度電界放出走査電子顕微鏡（FESEM） その CIQTEK SEM5000X は、最適化された電子光学カラム設計を採用した超高分解能FESEMです。全体的な収差を30%低減し、0.6nm@15kVおよび1.0nm@1kVという超高分解能を実現しています。高い分解能と安定性により、先端ナノ構造材料研究やハイテクノードの半導体ICチップの開発・製造において優位性を発揮します。
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