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CIQTEKとUSTCがハイエンドのその場電子顕微鏡共同研究室で協力1周年を迎える
高度な機器だけでは科学の飛躍的進歩は望めません。真の進歩は、技術と研究者が密接に協力してこそ実現します。
発売から1年後、 高性能その場電子顕微鏡共同研究室 工学・材料科学実験センターと CIQTEK イノベーションの考え方を共有することで、新たな可能性を切り開くことができることを示しました。 インサイチュー材料研究、マイクロ・ナノ加工、および力学関連の研究 。
「CIQTEK を選んだのは、単に機器を購入するためだけではありませんでした」と、工学・材料科学実験センター副所長のミン・ゴン教授は述べています。「私たちは、最先端の科学的課題を探求し解決するために協力してくれるパートナーを選びました。」
工学・材料科学実験センターは、中国科学技術大学にある6つの大学レベルの公共実験プラットフォームの一つです。力学、機械工学、計測科学、工学熱物理学など、幅広い分野をサポートしています。
このセンターは、材料の力学的挙動、複雑な流体システム、精密計測、マイクロ・ナノデバイスの製造、再生可能エネルギー材料に関する研究の推進において重要な役割を果たしています。オープンアクセスと専門的な分析サービスを組み合わせることで、学際的な連携を可能にし、学術研究と実際の産業界のニーズを結び付けています。
この枠組みの中で、 インサイチュー電子顕微鏡 非常に重要な機能となっています。これにより、研究者は実際の条件下で材料の構造的および機能的変化を直接観察することができ、従来の事後分析法では得られない知見が得られます。
材料科学研究がより小さなスケールとより動的なプロセスへと進むにつれ、従来の試料調製法ではもはや十分ではなくなりました。現代の研究では、 現場特有の準備、現場観察、三次元再構築 マイクロおよびナノスケールで。
これらの要求に応えるため、センターは FIB-SEMデュアルビーム電子顕微鏡 、提供元 CIQTEK この高度な科学機器は、高解像度の画像性能を維持しながら精密なマイクロおよびナノ加工を可能にするため、最先端研究に不可欠なツールとなっています。
「私たちの目標は非常に明確でした」とゴング教授は説明します。「最先端の科学技術における飛躍的な進歩を支える先進的な実験環境を提供すると同時に、将来の産業革新のための強固な技術基盤を提供したいと考えていました。」
機器の選択プロセスにおいて、センターは次の 3 つの主要な要素に重点を置きました。 システムの安定性、パフォーマンスの精度、長期的な技術サポート 。
「コア仕様は CIQTEKのFIB-SEM 「CIQTEKはすでに世界をリードするシステムと同等の能力を備えています」とゴング教授は語る。「そのことが最初から私たちに自信を与えてくれました。しかし、真に私たちを納得させたのは、CIQTEKの協力に対するオープンな姿勢でした。」
CIQTEKは研究者と緊密に連携し、実際の実験ニーズを理解し、アプリケーション開発とソフトウェア互換性に関する柔軟なサポートを提供しました。このアプローチにより、 デュアルビーム電子顕微鏡 固定された構成のままではなく、進行中の研究によって継続的に進化できるプラットフォームへと進化します。
1年以上の毎日の運用を経て、CIQTEK FIB-SEMデュアルビーム電子顕微鏡 高強度の研究条件下でも安定性と信頼性があることが証明されています。
「全体的な体験は期待を上回るものでした」と、工学・材料科学実験センターのエンジニア、ユー・バイ氏は語る。「このシステムは、マイクロ・ナノ加工と高解像度イメージングの両方において、一貫して優れた性能を発揮します。これは、私たちの現場材料研究に不可欠な要素です。」
同様に重要なのは、CIQTEKがユーザーからのフィードバックを継続的に追跡し、研究課題を具体的な最適化とアップグレードの方向性へと落とし込んできたことです。こうした継続的なやり取りにより、CIQTEKは進化する実験ニーズに常に対応できる装置となっています。
このコラボレーションの価値を明確に示す一例があります。システムの標準的な適用シナリオを超えたプロジェクトにおいて、研究チームは重大な技術的ボトルネックに遭遇しました。
「CIQTEKのアプリケーションエンジニアがすぐに現場に駆けつけてくれました」とバイ氏は振り返ります。「彼らは私たちと協力して実験的なアプローチを改良し、カスタマイズされたソフトウェアアップグレードを迅速に提供してくれました。」
この迅速な対応により、チームは実験を成功させ、 産学連携 科学の進歩を直接的に加速することができます。
「その時、パートナーを持つことの意味を真に実感しました」とバイ氏は付け加える。「単なる機器サプライヤーではなく、イノベーションのプロセス全体を通して私たちと共に歩んでくれるチームなのです。」
工学および材料科学実験センターと CIQTEK の連携は、高度な科学機器と緊密な協力がどのように独立したイノベーションをサポートできるかを示す明確な例です。
として 高性能その場電子顕微鏡共同研究室 発展が続く中、双方はさらに注力していく 力学、マイクロ・ナノ加工、高度な実験手法に関する現場材料研究 継続的な協力を通じて、高度な研究と将来の科学的進歩のための強力な技術サポートを提供することを目指しています。
ガ + 集束イオンビーム電界放出走査電子顕微鏡 その CIQTEK DB550 集束イオンビーム走査電子顕微鏡(FIB-SEM) ナノ分析および試料作製用の集束イオンビームカラムを備えています。「スーパートンネル」電子光学技術、低収差、非磁性対物レンズ設計を採用し、「低電圧・高分解能」という特長により、ナノスケールの分析能力を確保しています。 イオンカラムはGa + 極めて安定かつ高品質のイオンビームを発生する液体金属イオン源を搭載し、ナノファブリケーションを実現します。DB550は、ナノマニピュレーター、ガスインジェクションシステム、そしてユーザーフレンドリーなGUIソフトウェアを統合した、オールインワンのナノ分析・ファブリケーションワークステーションです。
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