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高性能リチウム銅箔はリチウムイオン電池の主要材料の一つであり、電池の性能に大きく関係します。電子機器や新エネルギー自動車における大容量、高密度、高速充電への需要の高まりに伴い、電池材料に対する要求も高まっています。より優れた電池性能を達成するには、表面品質、物性、安定性、均一性など、リチウム銅箔の全体的な技術指標を向上させる必要があります。 走査型電子顕微鏡-EBSD法による微細構造解析 材料科学では、組成と微細構造が機械的特性を決定します。 走査型電子顕微鏡(SEM) は、材料の表面特性評価に一般的に使用される科学機器であり、銅箔の表面形態や粒子の分布を観察できます。さらに、後方散乱電子回折 (EBSD) は、金属材料の微細構造を分析するために広く使用されている特性評価手法です。電界放射型走査電子顕微鏡上にEBSD検出器を構成することにより、研究者は、加工、微細構造、および機械的特性の間の関係を確立できます。 下図はCIQTEK電界放出型SEM5000で撮影した電解銅箔の表面形態を示しています。 銅箔平滑面/2kV/ETD 銅箔マット表面e/2kV/ETD サンプル表面が十分に平坦であれば、SEM 後方散乱検出器を使用して電子チャネル コントラスト イメージング (ECCI) を取得できます。電子チャネリング効果とは、入射電子ビームがブラッグ回折条件を満たす場合に結晶格子点からの電子の反射が大幅に減少し、多くの電子が格子を通過して「チャネリング」効果を示すことを指します。したがって、研磨された平らな多結晶材料の場合、後方散乱電子の強度は、入射電子ビームと結晶面の間の相対的な向きに依存します。方位のずれが大きい粒子は、より強い後方散乱電子信号とより高いコントラストを生成し、ECCI による粒子方位分布の定性的決定を可能にします。 ECCI の利点は、サンプル表面のより広い領域を観察できることです。したがって、EBSD取得前に、ECCIイメージングを使用して、粒子サイズ、結晶方位、変形ゾーンなどの観察を含む、サンプル表面の微細構造の巨視的特性評価を迅速に行うことができます。その後、EBSDテクノロジーを使用して、適切なスキャン領域を設定できます。関心領域における結晶方位のキャリブレーションのためのステップ サイズ。 EBSD と ECCI を組み合わせると、材料研究における結晶方位イメージング技術の利点が最大限に活用されます。[32] イオンビーム断面研磨技術を使用することにより、CIQTEKは、走査型電子顕微鏡での ECCI イメ�

I. リチウムイオン電池   リチウムイオン電池は二次電池であり、主に正極と負極の間を移動するリチウムイオンに依存して機能します。充電および放電プロセス中、リチウムイオンはダイヤフラムを介して 2 つの電極間を行き来し、電極材料の酸化還元反応によってリチウムイオンエネルギーの貯蔵と放出が行われます。   リチウムイオン電池は主に正極材、隔膜、負極材、電解液などで構成されています。中でも、リチウムイオン電池の隔膜は、正極と負極の直接接触を防ぐ役割を果たし、電解質中でのリチウムイオンの自由な通過を可能にし、リチウムイオン輸送のための微多孔性チャネルを提供します。   リチウムイオン電池の隔膜の細孔径、多孔度、分布の均一性、厚さは電解液の拡散速度と安全性に直接影響し、電池の性能に大きな影響を与えます。隔膜の細孔径が小さすぎると、リチウムイオンの透過性が制限され、電池内のリチウムイオンの移動性能に影響を及ぼし、電池抵抗が増加します。口径が大きすぎると、リチウム樹枝状結晶の成長によりダイヤフラムを突き破り、ショートや爆発などの事故を引き起こす可能性があります。   Ⅱ．リチウム隔膜の検出における電界放射型走査型電子顕微鏡の応用   走査型電子顕微鏡を使用すると、隔膜の孔径と分布の均一性を観察できるだけでなく、多層およびコーティングされた隔膜の断面を観察して隔膜の厚さを測定することもできます。従来市販されている隔膜材料は、ポリエチレン（PE）、ポリプロピレン（PP）の単層フィルムやPP/PE/PPの3層複合フィルムなどのポリオレフィン系材料から製造された微多孔膜がほとんどです。ポリオレフィンポリマー材料は絶縁性かつ非導電性であり、電子ビームに対して非常に敏感であり、高電圧下で観察すると帯電効果を引き起こす可能性があり、ポリマーダイヤフラムの微細構造は電子ビームによって損傷を受ける可能性があります。GSIが独自に開発した電界放射型走査電子顕微鏡SEM5000は、低電圧・高分解能を備え、低電圧でダイヤフラムを損傷することなくダイヤフラム表面の微細構造を直接観察することができます。   振動板の作製工程は大きく乾式法と湿式法の2種類に分けられます。乾式法は、一方向延伸法と二方向延伸法を含む溶融延伸法であり、工程が簡単で製造コストが低く、リチウムイオン電池隔膜の製造方法として一般的である。乾式法で作製した隔膜は平坦で長い微多孔質

2022年1月、CIQTEK-QOILTECHが提供するCatLiD-I 675ニアビットフォローオン測定システムは、オルドス山脈の宜山斜面と金西屈曲褶曲帯の間の移行地点に位置する臨興中ガス田で坑井の稼働に成功した。関係者がよく認識している盆地。 この坑井の対象層の継ぎ目上下の岩質は主に泥岩と炭素質泥岩である。炭層は深いところに埋まっており、周囲の井戸では入手可能な参考データが少ない。炭層セクションは、壁の崩壊や坑井の漏洩、ダウンホールのスタック掘削、埋設掘削、その他の複雑な事故が発生しやすいです。また、着陸前進による井戸の傾き調整が大きい。 CIQTEK-QOILTECH CatLiD-I 675 ニアビットは 2208 m から拾われ、再テスト曲線は上部計器と一致し、正確な着地点を与えるための指針となるデータを提供しました。     着陸時、炭層の前進により軌道は炭層の底部まで下がり、ニアビットのガンマ曲線は炭層の上部から底部までの完全な曲線パターンを測定します。後で炭層内のボーリング孔の軌跡の位置を判断するための基礎となります。 掘削時のニアビットのガンマカーブ変化が高分解能で一目瞭然で、炭層内外および炭層内の位置を正確に判断します。炭層内の脈石の値を正確に変化させることで、軌道の位置を効果的に決定でき、掘削遭遇率とボーリング孔軌道の滑らかさが向上します。     この井戸のサービスセクションは 2,208 ～ 3,208 メートルで、累積映像は 1,000 メートル、掘削遭遇率は 91.7% です。累積ダウンホール時間は 168 時間、純粋な掘削時間は 53.5 時間、平均機械掘削速度は 18.69m/h で、掘削サイクルを大幅に短縮して、完了深度まで掘削する旅です。 CIQTEK-QOILTECH の現場作業員と関連チームが協力して掘削サイクルを短縮し、掘削遭遇率を高め、リスクを軽減し、最終的に全員から高い評価を得ることができました。CIQTEK-QOILTECH CatLiD-I 675 ニアビット測定システムは完璧な完成品です。