ニアビットベースの炭層建設事業

CIQTEK Climber シリーズ - 比表面積および細孔径分析装置 は、高速、正確、安定した試験を行えるように設計されており、最大 6 つのサンプルの同時分析をサポートし、まったく新しい試験体験をもたらします。 âã 固体、スラリー、粉末の比表面積と細孔径分布を試験します �0.0005 m2/g 以上の比表面積分析 → 0.35 ～ 500 nm の細孔径分析 �5 ポイント BET テストは 20 分以内に完了できます

集束イオンビーム (FIB) カラムを備えた電界放射型走査電子顕微鏡 (FE-SEM) CIQTEK DB500 集束イオンビーム走査型電子顕微鏡 (FIB-SEM)は、「SuperTunnel」電子光学技術、低収差、低電圧および高分解能機能を備えた非磁性対物レンズ設計を採用しており、ナノスケールの分析です。イオンカラムは、ナノ加工用の非常に安定した高品質のイオンビームを備えた Ga+ 液体金属イオン源を容易にします。[7]。 FIB-SEM DB500 は、統合されたナノマニピュレーター、ガス注入システム、対物レンズ用の電気的汚染防止機構、および 24 個の拡張ポートを備えており、包括的な構成と拡張性を備えた万能のナノ分析および製造プラットフォームとなります。 .

EASY-V 3220 & 3210 は、CIQTEK が独自に開発した静的容積法を用いた BET 比表面積および細孔径分析装置です。   ▪ 比表面積試験、範囲 0.0005 (m 2 /g) 以上。 ▪ 細孔サイズ分析: 0.35 nm ～ 2 nm (微細孔)、微細孔サイズ分布分析。2 nm ～ 500 nm (メソ細孔またはマクロ細孔)。 ▪ 2 つの分析ステーション。EASY-V 3220: 2 つのサンプルの同時テスト。EASY-V 3210: 2 つのサンプルの交互テスト。 ・分子ポンプを搭載。

CIQTEK LIA001M は、ロックイン増幅、仮想オシロスコープ解析、パラメータ スキャン、復調プロット、データ解析などのさまざまな機能を組み合わせた高性能ロックイン アンプです。   高度なデジタル信号処理技術とハードウェア設計に基づいて、強いノイズに埋もれた微弱な信号を正確かつ迅速に検出できます。   これは、現代の微弱信号の検出と分析のための重要なツールの 1 つであり、さまざまな科学研究や産業用途で使用できます。

X バンドベンチトップ電子常磁性共鳴/電子スピン共鳴 (EPR または ESR) 分光法 EPR200M は、その高い感度と安定性に基づいて、経済的でメンテナンスの手間がかからず、EPR の研究と分析に使いやすいエクスペリエンスを提供します。

CIQTEK 教育用ダイヤモンド量子コンピューターは、ダイヤモンドの窒素空孔 (NV) 中心のスピン磁気共鳴に基づいた教育機器です。光学、電気、磁気などの基本的な物理量を制御することで、量子操作やNV中心スピンの読み出しを実現し、量子ビット、量子ゲート、量子アルゴリズムなどの量子コンピューティングの基本概念の実証を可能にします。   この機器は室温で動作するため (極低温環境は必要ありません)、運用コストはほぼゼロになります。デスクトップのデザインにより、量子力学や量子コンピューティングの実験コースを実施する教室、研究室、その他の環境に簡単に適応できます。

大容量試料のクロススケールイメージングのための高速走査型電子顕微鏡 CIQTEK HEM6000は、高輝度大ビーム電流電子銃、高速電子ビーム偏向システム、高電圧試料ステージ減速、ダイナミック光軸、浸漬電磁・静電コンボ対物レンズなどの技術を搭載し、高輝度を実現します。 - ナノスケールの解像度を確保しながら画像取得を高速化します。 自動化された操作プロセスは、より効率的かつスマートな大面積高解像度イメージング ワークフローなどのアプリケーション向けに設計されています。イメージング速度は、従来の電界放射型走査型電子顕微鏡 (fesem) に比べて 5 倍以上に達します

Melab は高性能、多機能のデジタル ロックイン アンプです。豊富なアナログ I/O インターフェイスと、ビジュアル ロックイン アンプ、仮想オシロスコープ、パラメータ スキャナ、信号発生器、データ収集、AM/FM 変調、PID コントローラなどの複数の機能を備えています。   一方、Melab はクイックスタートのためのイージーモードをサポートしており、これにより科学研究のワークフローが簡素化され、研究者が複数のデバイスを組み合わせる必要性が減り、科学研究の効率と品質が向上します。