電界放射型走査型電子顕微鏡 | SEM5000

集束イオンビーム (FIB) カラムを備えた電界放射型走査電子顕微鏡 (FE-SEM) CIQTEK DB550 集束イオンビーム走査型電子顕微鏡 (FIB-SEM)は、ナノ分析および試料調製用の集束イオンビームカラムを備えています。これは、「スーパー トンネル」電子光学技術、低収差および非磁性対物レンズ設計を利用しており、ナノスケール分析能力を保証する「低電圧、高分解能」機能を備えています。 イオンカラムは、非常に安定した高品質のイオンビームを備えた Ga+ 液体金属イオン源を促進し、ナノ加工能力を確保します。 DB550 は、統合されたナノマニピュレーター、ガス注入システム、およびユーザーフレンドリーな GUI ソフトウェアを備えたオールインワンのナノ分析および製造ワークステーションです。

超高分解能フィールド排出走査型電子顕微鏡（FESEM） CIQTEK SEM5000X 最適化された電子光学カラムの設計を備えた超高解像度FESEMであり、全体的な異常を30％削減し、0.6 nm@15 kVおよび1.0 nm@1 kVの超高解像度を達成しました。その高解像度と安定性により、高度なナノ構造材料の研究、およびハイテクノードの半導体ICチップの開発と製造において、それを有利にします

安定性、多用途性、柔軟性、効率性 CIQTEK SEM4000X は、安定性、多用途性、柔軟性、効率性に優れた 電界放射型走査型電子顕微鏡 (FE-SEM)です。 1.0kVで1.9nmの解像度を達成し、さまざまな種類のサンプルの高解像度イメージングの課題に簡単に取り組みます。ウルトラビーム減速モードにアップグレードして、低電圧分解能をさらに高めることができます。 この顕微鏡は、高分解能性能を提供しながら SE および BSE 信号を検出できるカラム内電子検出器 (UD) を備えたマルチ検出器技術を利用しています。チャンバーに取り付けられた電子検出器 (LD) には、結晶シンチレーターと光電子増倍管が組み込まれており、感度と効率が向上し、優れた品質の立体画像が得られます。グラフィック ユーザー インターフェイスはユーザー フレンドリーで、自動輝度とコントラスト、自動フォーカス、自動非点補正器、自動位置合わせなどの自動化機能を備えており、超高解像度画像の迅速なキャプチャが可能です。

高性能・汎用タングステンフィラメントSEM顕微鏡 そのCIQTEK SEM3200 SEM顕微鏡SEM3200は、優れた総合性能を備えた汎用性の高いタングステンフィラメント走査型電子顕微鏡（SEM）です。独自のデュアルアノード電子銃構造により、低励起電圧でも高解像度を実現し、画像S/N比を向上させます。さらに、豊富なオプションアクセサリが用意されているため、SEM3200は優れた拡張性を備えた多用途の分析装置となっています。