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【科学論文筆頭著者独占インタビュー】CIQTEK電子顕微鏡を活用しよう!
最近、世界トップクラスの学術誌「サイエンス」に、同済大学の羅薇教授と華中科技大学の黄雲輝教授らの共同研究者による「固体電池におけるリチウム金属アノードの疲労」と題する研究論文が掲載されました。
この研究では、固体電池のリチウム金属アノードの疲労破壊現象が初めて明らかになり、新たな疲労破壊メカニズムが明らかにされ、疲労破壊を抑制して固体電池の性能を向上させるための新たな戦略が提案されました。
この研究では、研究チームは タングステンフィラメントSEM CIQTEKから 現場SEM疲労試験を実施し、優れた試験結果を得ました。
原論文へのリンク:
https://www.science.org/doi/10.1126/science.adq6807
最近、この論文の第一著者である同済大学のBo Chen教授がCIQTEKに招待され、インタビューに応じてくれました。
陳博教授は次のように紹介しました。「私たちの研究グループは、主に2つの側面に焦点を当てています。1つはシンクロトロンX線によるイメージング、もう1つはCIQTEKと同様の電子顕微鏡によるイメージングです。私たちの研究グループ全体の研究は、材料のナノ・マイクロ構造、特に3次元のナノ・マイクロ構造を中心に展開しています。そのため、私たちの研究グループ全体を材料ナノ・マイクロ構造研究グループと呼ぶことができます。」
最近「サイエンス」誌に掲載された論文について、陳博教授は次のように述べています。「この論文は、これまで広く検討されてこなかった現象、すなわちリチウム金属の疲労に注目しています。これまでは、充放電プロセス中に生じる電気化学的疲労だと誰もが考えていましたが、実際には、これらのプロセス中に機械的疲労も生じているのです。」
本研究の主な発見は、リチウムは充放電中に電気化学的疲労を示すだけでなく、これらのプロセス中に機械的疲労も示すという点です。これらが相まって、固体電池のリチウム金属の破壊の主な原因となっています。さらに、本論文では、リチウム金属を合金化して物理的特性を向上させることで、固体電池の寿命を延ばすことができる可能性も示唆しています。これは画期的な発見であり、非常に興味深いものです。
実験計画にあたり、研究チームは電子顕微鏡に疲労試験装置を設置し、両方の疲労を観察しました。研究グループが所有していた電子顕微鏡は1台のみだったため、包括的な観察を行うために、杭州元威科技有限公司の李継学教授が開発した現場引張ステージを使用しました。陳博教授は、「李教授の協力を得て、疲労引張試験装置を共同で開発しました。リチウム金属の機械的疲労実験は、李教授がCIQTEKの現場引張試験用電子顕微鏡を用いて実施しました」と述べています。
彼に意見を聞くと、 CIQTEK電子顕微鏡 Bo Chen教授は非常に率直かつ誠実でした。「私たちにとって唯一の要件は、機器がうまく機能することです。」
実践的な探究を好む研究者である陳博教授は、CIQTEK機器の使用に関する個人的な見解も共有しました。教授は、機器が品質とコスト効率の両方を兼ね備えている場合、研究者が機器をいじくり回すことへの関心が高まり、高価な機器への疎外感が軽減され、機器をより効果的に活用するようになり、ひいては研究の創造性がさらに発揮されると述べました。
最後に陳博教授の言葉で締めくくります。 CIQTEK 我々は「顧客の成功、仲間の成功」というスローガンを掲げ続けます。
超高解像度 タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡 その CIQTEK SEM3300 走査型電子顕微鏡(SEM) 「スーパートンネル」電子光学系、インレンズ電子検出器、静電・電磁複合対物レンズなどの技術を採用しています。これらの技術をタングステンフィラメント顕微鏡に適用することで、長年のSEMの分解能限界を突破し、これまで電界放出型SEMでしか実現できなかった低電圧分析をタングステンフィラメントSEMで実行できるようになります。
高速 完全自動化フィールドエミッション 走査型電子顕微鏡 ワークステーション CIQTEK HEM6000 高輝度大ビーム電流電子銃、高速電子ビーム偏向システム、高電圧サンプルステージ減速、ダイナミック光軸、液浸電磁静電コンボ対物レンズなどの設備技術を採用し、ナノスケールの解像度を確保しながら高速画像取得を実現します。 自動化された操作プロセスは、より効率的でスマートな大面積高解像度イメージングワークフローなどの用途向けに設計されています。そのイメージング速度は、従来の電界放出走査電子顕微鏡(FESEM)の5倍以上です。
使いやすい コンパクトタングステンフィラメント 走査型電子顕微鏡 その CIQTEK SEM2100 SEM顕微鏡 操作プロセスは簡素化され、業界標準とユーザーの習慣に基づいた「ユーザーインターフェース」設計を採用しています。シンプルなソフトウェアインターフェースでありながら、包括的な自動化機能、測定・注釈ツール、画像後処理管理機能、光学画像ナビゲーションなどを備えています。SEM2100の設計は、「機能性を犠牲にすることなくシンプルに」という理念を完璧に実現しています。
高性能・汎用タングステンフィラメントSEM 顕微鏡 その CIQTEK SEM3200 SEM顕微鏡 SEM3200は、優れた総合性能を備えた汎用性の高いタングステンフィラメント走査型電子顕微鏡(SEM)です。独自のデュアルアノード電子銃構造により、低励起電圧でも高解像度を実現し、画像S/N比を向上させます。さらに、豊富なオプションアクセサリが用意されているため、SEM3200は優れた拡張性を備えた多用途の分析装置となっています。
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