高真空モードと低真空モードの両方で優れた画像品質機能を備えた高性能タングステン フィラメント SEM 顕微鏡 CIQTEK SEM3200 SEM 顕微鏡 は、ユーザーフレンドリーなインターフェイスを備えた広い被写界深度を備えており、ユーザーは試料の特性を評価し、顕微鏡イメージングと分析の世界を探索できます。
Next-generation Tungsten Filament Scanning Electron Microscope The CIQTEK SEM3300 scanning electron microscope (SEM) incorporates technologies such as "Super-Tunnel" electron optics, inlens electron detectors, and electrostatic & electromagnetic compound objective lens. By applying these technologies into the tungsten filament microscope, the long-standing resolution limit of such SEM is surpassed, enabling the tungsten filament SEM to perform low-voltage analysis tasks previously only achievable with field emission SEMs.