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CIQTEK SEMがドイツのミュンスター電子顕微鏡トレーニングコース2026に参加
CIQTEK は、 CIQTEK SEM3200 タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡 参加します 2026年ミュンスターSEMトレーニングコース 、参加者に楽器の実体験を提供するセッションを開催しました。 2026年3月16日から3月20日まで で ミュンスター、ドイツ 。
この連携により、トレーニングプログラムに参加する研究者、エンジニア、顕微鏡ユーザーは、SEM3200システムを直接操作し、実際の分析ワークフローにおけるその機能を探求することができます。多くの参加者にとって、これはヨーロッパで最も長い歴史を持つ顕微鏡トレーニングプログラムの一つであり、最新の走査型電子顕微鏡技術を実践的に体験する機会となります。
ミュンスターのSEMトレーニングコースは、 電子顕微鏡検査と分析のためのアカデミー gGmbH 電子顕微鏡法と微量分析法の教育に特化した定評ある機関です。
アカデミーは数十年にわたり、次のようなトピックを網羅した集中的なトレーニング セッションを開催してきました。
走査型電子顕微鏡の基礎
エネルギー分散分光法(EDS)分析
電子イメージング技術
サンプルの準備と実用的なワークフロー
材料分析のためのデータ解釈
これらのコースには毎年、多様な参加者が集まります。参加者には、ヨーロッパ各地および海外から、大学の研究者、実験室のエンジニア、産業材料の専門家、顕微鏡施設のスタッフなどが含まれます。
研修は ミュンスター応用科学大学のFachhochschulzentrum 講義と実習を組み合わせたコースです。複数の顕微鏡が設置されており、参加者は直接操作を体験することができます。
2026 年のコーススケジュールには、次のようないくつかの専門セッションが含まれています。
R-1: 走査型電子顕微鏡入門
R-2: 高度なSEMとマイクロアナリシス
R-3: 高度なSEM技術
EBSD分析トレーニング
粒子分析コース
期間中 3月16日から3月20日までのセッション 、 CIQTEK SEM3200 トレーニングやデモンストレーションに使用される機器の 1 つとして利用できるようになります。
コースはここで確認してください: http://www.akademie-elektronenmikroskopie.de/uebersicht.php
ミュンスターSEMコースのようなトレーニングプログラムは、電子顕微鏡コミュニティにおいて重要な役割を果たしています。研究者やエンジニアが実践的なスキルを強化し、講師や他の参加者と経験を交換できるプラットフォームを提供しています。
CIQTEKは、科学研究と分析能力の向上には実践的な教育が不可欠であると考えています。トレーニング活動を支援し、実習用の機器を提供することで、ユーザーがSEM技術とその応用についてより深く理解できるよう支援することを目指しています。
このようなイベントは、機器開発者とエンドユーザー間の対話の機会も創出します。トレーニング環境からのフィードバックは、ユーザビリティ、ソフトウェア設計、分析ワークフローの改善に役立つことがよくあります。
SEM3200 は、研究室、大学、産業分析施設向けに設計された CIQTEK の電子顕微鏡装置のポートフォリオの一部です。
CIQTEK は、以下を含むさまざまな走査型電子顕微鏡ソリューションを提供しています。
日常的なイメージングと材料分析のための信頼性が高くコスト効率に優れたシステム。
高度なナノ構造の観察や要求の厳しい研究アプリケーション向けに設計された高解像度の機器。
ナノスケールのサンプル準備、断面作成、3D 分析のためのデュアルビーム システム。
2026年のミュンスターSEMトレーニングコースでは、顕微鏡コミュニティのメンバーが再び集まり、数週間にわたる集中的な学習と実践的な経験を積むことになります。CIQTEKは、 SEM3200走査型電子顕微鏡 プログラムに貢献し、実践セッション中に参加者をサポートします。
CIQTEK は、研修機関や研究組織と協力しながら、世界中で顕微鏡検査の専門知識の開発と材料特性評価技術の進歩を支援し続けています。
高性能・汎用タングステンフィラメントSEM 顕微鏡 その CIQTEK SEM3200 SEM顕微鏡 SEM3200は、優れた総合性能を備えた汎用性の高いタングステンフィラメント走査型電子顕微鏡(SEM)です。独自のデュアルアノード電子銃構造により、低励起電圧でも高解像度を実現し、画像S/N比を向上させます。さらに、豊富なオプションアクセサリが用意されているため、SEM3200は優れた拡張性を備えた多用途の分析装置となっています。
超高解像度 タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡 その CIQTEK SEM3300 走査型電子顕微鏡(SEM) 「スーパートンネル」電子光学系、インレンズ電子検出器、静電・電磁複合対物レンズなどの技術を採用しています。これらの技術をタングステンフィラメント顕微鏡に適用することで、長年のSEMの分解能限界を突破し、これまで電界放出型SEMでしか実現できなかった低電圧分析をタングステンフィラメントSEMで実行できるようになります。
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