2026 is a fresh start for CIQTEK Electron Microscope USA operations.
This year, we officially formed a dedicated CIQTEK US team. That means more local presence, faster response, and closer communication with customers across the country.
And we are not staying behind a desk.
Our U.S. team, together with our official local distributor, JH Technologies, recently participated in the SMTA Wafer-Level Packaging Symposium 2026 and the 60th Anniversary Meeting of the Texas Society for Microscopy (TSM).
At the SMTA Wafer-Level Packaging Symposium in San Francisco, we connected with engineers and technical experts working in advanced semiconductor packaging.
As devices continue to shrink, inspection and defect analysis become more demanding. Reliable SEM solutions USA customers can trust are more important than ever. We had open, practical conversations about real challenges in wafer-level packaging. Topics included imaging resolution, surface characterization, and process optimization.
These discussions help us better understand how the CIQTEK electron microscope can support advanced manufacturing and research applications.
CIQTEK and JH Technologies at the SMTA 2026
The 60th Anniversary Meeting of the Texas Society for Microscopy was especially meaningful.
Unlike large national exhibitions, microscopy society events in the USA, such as TSM, allow for closer, more personal conversations. We met researchers, lab managers, and industry professionals from materials science, life sciences, and industrial labs.
For CIQTEK, TSM 2026 is the starting point of a broader plan. Our new CIQTEK US team will continue visiting regional microscopy societies across the country. We believe real relationships are built face-to-face.
CIQTEK at the TSM 2026
The launch of our CIQTEK US team marks a new phase for CIQTEK electron microscope USA development.
We are investing in local support.
We are building stronger partnerships.
We are becoming part of the American microscopy ecosystem.
More regional visits are coming.
More technical exchanges are ahead.
2026 is not just another year. It is the year CIQTEK steps closer to the U.S. microscopy community.
And this is only the beginning.
超高解像度 タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡 その CIQTEK SEM3300 走査型電子顕微鏡（SEM） 「スーパートンネル」電子光学系、インレンズ電子検出器、静電・電磁複合対物レンズなどの技術を採用しています。これらの技術をタングステンフィラメント顕微鏡に適用することで、長年のSEMの分解能限界を突破し、これまで電界放出型SEMでしか実現できなかった低電圧分析をタングステンフィラメントSEMで実行できるようになります。
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超高解像度電界放出走査電子顕微鏡（FESEM） その CIQTEK SEM5000X は、最適化された電子光学カラム設計を採用した超高分解能FESEMです。全体的な収差を30%低減し、0.6nm@15kVおよび1.0nm@1kVという超高分解能を実現しています。高い分解能と安定性により、先端ナノ構造材料研究やハイテクノードの半導体ICチップの開発・製造において優位性を発揮します。
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ガ + 集束イオンビーム電界放出走査電子顕微鏡 その CIQTEK DB550 集束イオンビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM） ナノ分析および試料作製用の集束イオンビームカラムを備えています。「スーパートンネル」電子光学技術、低収差、非磁性対物レンズ設計を採用し、「低電圧・高分解能」という特長により、ナノスケールの分析能力を確保しています。 イオンカラムはGa + 極めて安定かつ高品質のイオンビームを発生する液体金属イオン源を搭載し、ナノファブリケーションを実現します。DB550は、ナノマニピュレーター、ガスインジェクションシステム、そしてユーザーフレンドリーなGUIソフトウェアを統合した、オールインワンのナノ分析・ファブリケーションワークステーションです。
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