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米国イリノイ州で開催された2026年MMMS年次春季会議におけるCIQTEK
2026年3月27日 – 米国イリノイ州エバンストン
CIQTEK 参加できて嬉しいです 中西部顕微鏡・微量分析学会(MMMS)春季年次会議 の上 2026年3月27日 、主催 イリノイ州エバンストンのノースウェスタン大学 この集まりは、中西部全域の研究者、顕微鏡学者、業界の専門家にとって必須のイベントであり、最新の電子顕微鏡法、微量分析、最先端の研究室技術を共有するプラットフォームを提供します。
米国現地チームは、参加者と面会し、実際のラボの課題について議論し、CIQTEKの洞察を共有するために現地に赴きます。 電子顕微鏡ソリューションのフルラインナップ 。 から 日常的なSEMから高度な電界放出システムまで CIQTEKは、次のような機器を設計しています。 信頼性の高い画像、高性能、実用的な使いやすさ 学術、産業、研究室向け。
来場者は以下の機会を得ることができます:
当社の SEM 、 透過型電子顕微鏡 、 そして FIB-SEM プラットフォーム
顕微鏡検査と微量分析のワークフロー改善について議論する
材料科学、産業検査、研究室向けのソリューションを探る
CIQTEK USAチームへのお問い合わせ: info.usa@ciqtek.com
MMMS春季会議は単なる会議ではありません。最新技術の実例を見学し、他の研究者と意見交換を行い、日々の研究室作業をより容易かつ効率的にするツールを探求する機会です。CIQTEKは、この活気ある顕微鏡コミュニティの一員として、中西部全域の研究者の革新と実用的なソリューションを支援できることを誇りに思います。
3月27日にエバンストンで会いましょう!
当社の SEM ラインナップをご覧になり、当社チームとチャットして、CIQTEK 機器が顕微鏡検査および微量分析のニーズをどのようにサポートできるかをご確認ください。
ガ + 集束イオンビーム電界放出走査電子顕微鏡 その CIQTEK DB550 集束イオンビーム走査電子顕微鏡(FIB-SEM) ナノ分析および試料作製用の集束イオンビームカラムを備えています。「スーパートンネル」電子光学技術、低収差、非磁性対物レンズ設計を採用し、「低電圧・高分解能」という特長により、ナノスケールの分析能力を確保しています。 イオンカラムはGa + 極めて安定かつ高品質のイオンビームを発生する液体金属イオン源を搭載し、ナノファブリケーションを実現します。DB550は、ナノマニピュレーター、ガスインジェクションシステム、そしてユーザーフレンドリーなGUIソフトウェアを統合した、オールインワンのナノ分析・ファブリケーションワークステーションです。
超高解像度 タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡 その CIQTEK SEM3300 走査型電子顕微鏡(SEM) 「スーパートンネル」電子光学系、インレンズ電子検出器、静電・電磁複合対物レンズなどの技術を採用しています。これらの技術をタングステンフィラメント顕微鏡に適用することで、長年のSEMの分解能限界を突破し、これまで電界放出型SEMでしか実現できなかった低電圧分析をタングステンフィラメントSEMで実行できるようになります。
超高解像度電界放出走査電子顕微鏡(FESEM) その CIQTEK SEM5000X は、最適化された電子光学カラム設計を採用した超高分解能FESEMです。全体的な収差を30%低減し、0.6nm@15kVおよび1.0nm@1kVという超高分解能を実現しています。高い分解能と安定性により、先端ナノ構造材料研究やハイテクノードの半導体ICチップの開発・製造において優位性を発揮します。
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