科学研究において、花粉は幅広い用途があります。中国科学院南京地質古生物学研究所のリミ・マオ博士によると、土壌に沈着したさまざまな花粉を抽出して分析することで、それぞれがどの親植物から来たものかを理解し、環境や気候を推測することが可能になるという。その時。植物研究の分野では、花粉は主に体系的な分類法に顕微鏡的な参照証拠を提供します。さらに興味深いのは、花粉の証拠は犯罪捜査事件にも応用できることです。法医花粉学は、容疑者の同行衣服や犯罪現場に付着した花粉スペクトルの証拠を使用することで、犯罪の事実を効果的に裏付けることができます。地質研究の分野では、花粉は植生史、過去の生態学、気候変動研究の再構築に広く使用されています。人類の初期の農耕文明や生息地を探る考古学研究では、花粉は科学者が人類による初期の植物栽培の歴史、どのような食用作物が栽培されていたかなどを理解するのに役立ちます。
図1 3D花粉モデル写真（リミ・マオ博士撮影、オリバー・ウィルソン博士開発製品）
花粉の大きさは数ミクロンから200ミクロン以上までさまざまですが、これは目視による観察の解像度を超えており、観察や研究には顕微鏡の使用が必要です。花粉には、サイズ、形状、壁構造、装飾など、さまざまな形態があります。花粉の装飾は、花粉を識別し区別するための重要な基礎の 1 つです。しかし、光学生物顕微鏡の分解能には物理的な限界があり、花粉の装飾の違いを正確に観察することは難しく、一部の小さな花粉の装飾さえも観察することができません。したがって、科学者は、花粉の形態学的特徴の鮮明な画像を取得するために、高解像度と深い被写界深度を備えた走査型電子顕微鏡 (SEM) を使用する必要があります。化石花粉の研究では、その花粉が属する特定の植物を特定することができ、当時の植生、環境、気候情報をより正確に理解することができます。
花粉の微細構造
最近、 研究者は CIQTEK タングステン フィラメント SEM3100 と CIQTEK フィールド エミッション SEM5000 を使用して、さまざまな花粉を顕微鏡で観察しました。
図2 CIQTEKタングステンフィラメントSEM3100とフィールドエミッションSEM5000
1. 桜
花粉は球形～長楕円形。3 つの細孔溝 (花粉が処理されていない場合、細孔は明白ではありません) により、溝は両方の極に到達します。縞模様の装飾が施された外壁。
2. チャイニーズバイオレットクレス（Orychophragmus violaceus）
スミレクレスの花粉の形態は楕円形で、3つの溝があり、表面は網状のパターンを持ち、メッシュサイズは異なります。
3.オッテリア
花粉の粒は丸く、表面に棘のような突起があります。
4. リリー
花粉粒子の形状は楕円体であり、極面から見ると楕円体、赤道面から見ると舟形です。花粉粒は主に一本の溝があり、溝は両端まで伸びており、外壁には短い棒が網状に並んでいます。
5. 台湾ゴム
花粉粒子は球形で多孔質で、細孔膜があります。
6. ウィンタージャスミン
花粉の粒は長い楕円形で、細孔の溝が3本あり（目立たないように細孔が凹んでいることもあります）、溝は両極と同じ長さです。外壁の表面には明確な網目模様があり、網目の大きさが異なり、不規則な形状をしています。
7.ペーパーブッシュ
花粉は球形で、外壁に粒状の突起があり、直径は10～40μmです。
8.梅の花
花粉は長方形で、外壁に縞模様があります。
特別な感謝
いくつかの花粉サンプルと植物の写真は、中国科学院南京地質古生物学研究所のリミ・マオ博士から提供されました。
CIQTEK SEM5000 は、高圧電子ビームトンネル技術 (SuperTunnel)、低収差、非浸漬を備えた高度な電子光学コラム設計の恩恵を受け、豊富な機能によってサポートされる高解像度のイメージングおよび分析能力を備えた電界放射型走査電子顕微鏡です。対物レンズにより、低電圧・高分解能イメージングを実現し、磁性試料の分析も可能です。 光学式ナビゲーション、自動化された機能、慎重に設計された人間とコンピューターの対話型ユーザー インターフェイス、および最適化された操作と使用プロセスにより、専門家かどうかに関係なく、高解像度のイメージングと分析作業をすぐに開始して完了できます。
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CIQTEK SEM5000 は、高圧電子ビームトンネル技術 (SuperTunnel)、低収差、非浸漬を備えた高度な電子光学コラム設計の恩恵を受け、豊富な機能によってサポートされる高解像度のイメージングおよび分析能力を備えた電界放射型走査電子顕微鏡です。対物レンズにより、低電圧・高分解能イメージングを実現し、磁性試料の分析も可能です。 光学式ナビゲーション、自動化された機能、慎重に設計された人間とコンピューターの対話型ユーザー インターフェイス、および最適化された操作と使用プロセスにより、専門家かどうかに関係なく、高解像度のイメージングと分析作業をすぐに開始して完了できます。
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安定性、多用途性、柔軟性、効率性 CIQTEK SEM4000X は、安定性、多用途性、柔軟性、効率性に優れた 電界放射型走査型電子顕微鏡 (FE-SEM)です。 1.0kVで1.9nmの解像度を達成し、さまざまな種類のサンプルの高解像度イメージングの課題に簡単に取り組みます。ウルトラビーム減速モードにアップグレードして、低電圧分解能をさらに高めることができます。 この顕微鏡は、高分解能性能を提供しながら SE および BSE 信号を検出できるカラム内電子検出器 (UD) を備えたマルチ検出器技術を利用しています。チャンバーに取り付けられた電子検出器 (LD) には、結晶シンチレーターと光電子増倍管が組み込まれており、感度と効率が向上し、優れた品質の立体画像が得られます。グラフィック ユーザー インターフェイスはユーザー フレンドリーで、自動輝度とコントラスト、自動フォーカス、自動非点補正器、自動位置合わせなどの自動化機能を備えており、超高解像度画像の迅速なキャプチャが可能です。
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安定性、多用途性、柔軟性、効率性 CIQTEK SEM4000X は、安定性、多用途性、柔軟性、効率性に優れた 電界放射型走査型電子顕微鏡 (FE-SEM)です。 1.0kVで1.9nmの解像度を達成し、さまざまな種類のサンプルの高解像度イメージングの課題に簡単に取り組みます。ウルトラビーム減速モードにアップグレードして、低電圧分解能をさらに高めることができます。 この顕微鏡は、高分解能性能を提供しながら SE および BSE 信号を検出できるカラム内電子検出器 (UD) を備えたマルチ検出器技術を利用しています。チャンバーに取り付けられた電子検出器 (LD) には、結晶シンチレーターと光電子増倍管が組み込まれており、感度と効率が向上し、優れた品質の立体画像が得られます。グラフィック ユーザー インターフェイスはユーザー フレンドリーで、自動輝度とコントラスト、自動フォーカス、自動非点補正器、自動位置合わせなどの自動化機能を備えており、超高解像度画像の迅速なキャプチャが可能です。
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大ビーム I を備えた分析用電界放射型走査電子顕微鏡 (FESEM) CIQTEK SEM4000Proは、高輝度・長寿命のショットキー電界放出型電子銃を搭載したFE-SEMの解析モデルです。 3 段階の電磁レンズ設計 は、EDS / EDX、EBSD、WDS などの分析アプリケーションに大きな利点をもたらします。低真空モードと高性能低真空二次電子検出器、および格納可能な反射電子検出器が標準装備されており、導電性の低いまたは非導電性の試料の観察に役立ちます。
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低励起下での高分解能 CIQTEK SEM5000Proは、低励起電圧下でも高分解能に特化したショットキー電界放射型走査電子顕微鏡(FE-SEM)です。高度な「スーパートンネル」電子光学技術を採用することで、静電磁複合レンズ設計と合わせてクロスオーバーのないビーム経路が容易になります。 これらの進歩により、空間帯電効果が低減され、レンズ収差が最小限に抑えられ、低電圧でのイメージング解像度が向上し、1 kV で 1.2 nm の解像度が達成され、非導電性または半導電性サンプルの直接観察が可能になり、サンプルを効果的に削減できます。放射線によるダメージ
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大容量試料のクロススケールイメージングを実現する高速走査型電子顕微鏡 CIQTEK HEM6000高輝度大ビーム電流電子銃、高速電子ビーム偏向システム、高電圧試料ステージ減速、ダイナミック光軸、液浸電磁・静電コンボ対物レンズなどの設備技術ナノスケールの解像度を確保しながら高速画像取得を実現します。 自動化された操作プロセスは、より効率的かつスマートな大面積高解像度イメージング ワークフローなどのアプリケーション向けに設計されています。イメージング速度は、従来の電界放射型走査電子顕微鏡 (FESEM) よりも 5 倍以上高速に達することができます。
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集束イオン ビーム (FIB) カラムを備えた電界放射型走査電子顕微鏡 (FE-SEM) CIQTEK DB550 集束イオンビーム走査型電子顕微鏡 (FIB-SEM)は、ナノ分析および試料調製用の集束イオンビームカラムを備えています。これは、「スーパー トンネル」電子光学技術、低収差および非磁性対物レンズ設計を利用しており、ナノスケール分析能力を保証する「低電圧、高分解能」機能を備えています。 イオンカラムは、非常に安定した高品質のイオンビームを備えた Ga+ 液体金属イオン源を促進し、ナノ加工能力を確保します。 DB550 は、統合されたナノマニピュレーター、ガス注入システム、およびユーザーフレンドリーな GUI ソフトウェアを備えたオールインワンのナノ分析および製造ワークステーションです。
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次世代タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡 CIQTEK SEM3300走査型電子顕微鏡 (SEM)には、「スーパートンネル」電子光学、インレンズ電子検出器、静電および電磁複合対物レンズなどの技術が組み込まれています。これらの技術をタングステン フィラメント顕微鏡に適用することにより、このような SEM の長年の分解能限界が超えられ、以前は電界放出型 SEM でのみ達成できた低電圧分析タスクをタングステン フィラメント SEM で実行できるようになりました。
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120kV 電界放射型透過電子顕微鏡 (TEM) １．分割されたワークスペース: ユーザーは、TEM への環境干渉を軽減する分割された部屋で快適に TEM を操作できます。 ２．高い運用効率: 指定されたソフトウェアは高度に自動化されたプロセスを統合し、リアルタイム監視による効率的な TEM インタラクションを可能にします。 ３．アップグレードされた操作体験: 高度に自動化されたシステムを備えた電界放出型電子銃を搭載。 ４．高い拡張性: ユーザーがより上位の構成にアップグレードできるように、さまざまなアプリケーション要件を満たす十分なインターフェイスが確保されています。
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