CIQTEK FIB-SEM 実践デモンストレーション - フェライトマルテンサイト鋼の透過試験片の作製

CIQTEK FIB-SEM 実践デモンストレーション

集束イオンビーム走査型電子顕微鏡 (FIB-SEM)は、欠陥診断、修復、イオン注入、その場処理、マスク修復、エッチング、集積回路設計の変更、チップデバイスの製造、マスクレス処理、ナノ構造の製造、複雑なナノパターニング、材料の三次元イメージングと分析、超高感度表面分析、表面改質、透過型電子顕微鏡による試料作製。

CIQTEK は、FIB-SEMDB550を導入しました。これは、独立して制御可能な集束機能を備えた電界放射型走査電子顕微鏡 (FE-SEM) を備えています。イオン ビーム (FIB) カラム.これは、エレガントで汎用性の高いナノスケール分析および試料調製ツールであり、「スーパートンネル」電子光学技術、低収差、非透過性を採用しています。ナノスケール分析を保証する低電圧および高分解能機能を備えた磁気対物レンズ設計。 イオンカラムは、非常に安定した高品質のイオンビームを備えた Ga+ 液体金属イオン源を促進し、ナノ加工能力を保証します。 DB550 には、ナノマニピュレーター、ガス注入システム、対物レンズ用の電気的汚染防止機構、およびユーザーフレンドリーな GUIソフトウェアが統合されており、オールインワンのナノスケール分析および製造ワークステーション。

DB550 の卓越したパフォーマンスを紹介するために、CIQTEK は 「CIQTEK FIB-SEM 実践デモンストレーション」と呼ばれる特別イベントを計画しました。 このプログラムでは、この最先端の装置の広範なアプリケーションをデモンストレーションするビデオを提示します。材料科学、半導体産業、生物医学研究などの分野。視聴者は、DB550 の動作原理を理解し、その見事なマイクロスケール画像を鑑賞し、科学研究と産業開発に対するこの技術の重要な意味を探究します。

フェライト・マルテンサイト鋼の透過試験片の作製

FIB-SEM DB550 CIQTEK