CIQTEK FIB SEM 実践デモンストレーション - ナノマイクロピラー試料の準備

CIQTEK FIB-SEM 実践デモンストレーション

集束イオンビーム走査型電子顕微鏡 (FIB-SEM)は、欠陥診断、修復、イオン注入、その場処理、マスク修復、エッチング、集積回路設計の修正、チップデバイス製造などのさまざまな用途に不可欠です。 、マスクレス処理、ナノ構造作製、複雑なナノパターニング、材料の三次元イメージングと分析、超高感度表面分析、表面改質、透過型電子顕微鏡による試料作製。

CIQTEK は、独立して制御可能な<13集束イオンビームを備えた電界放射型走査電子顕微鏡 (FE-SEM) を備えたFIB-SEM DB550を導入しました ( FIB) コラム。これは、「SuperTunnel」電子光学技術、低収差、低電圧および高分解能機能を備えた非磁性対物レンズ設計を採用し、ナノスケール分析を確実に行う、エレガントで汎用性の高いナノスケール分析および試料前処理ツールです。イオンカラムは、非常に安定した高品質のイオンビームを備えた Ga+ 液体金属イオン源を促進し、ナノ加工能力を保証します。 DB550 は、統合されたナノマニピュレーター、ガス注入システム、対物レンズ用の電気的汚染防止機構、およびユーザーフレンドリーな GUI ソフトウェアを備えており、オールインワンのナノスケール分析および製造ワークステーションを容易にします。

DB550の卓越したパフォーマンスを紹介するために、CIQTEKは「CIQTEK FIB-SEM 実用デモンストレーション」と呼ばれる特別イベントを計画しました。これはプログラムでは、材料科学、半導体産業、生物医学研究などの分野におけるこの最先端の装置の幅広い用途を示すビデオを紹介します。視聴者はDB550の動作原理を理解できるようになります。、その見事なマイクロスケール画像を鑑賞し、科学研究と産業発展に対するこの技術の重要な意味を探求してください。

ナノマイクロピラー S試料準備

ナノマイクロピラーS標本の調製は成功裡に達成され、ナノスケールの処理および分析におけるCIQTEK集束イオンビーム走査型電子顕微鏡の強力な能力を実証した。この製品のパフォーマンスは、ナノメカニカル試験に携わる顧客に正確で効率的かつマルチモーダルな試験サポートを提供し、材料研究のブレークスルーを促進します。