CIQTEK Climber シリーズ - 比表面積および細孔径分析装置 は、高速、正確、安定した試験を行えるように設計されており、最大 6 つのサンプルの同時分析をサポートし、まったく新しい試験体験をもたらします
。âã 固体、スラリー、粉末の比表面積と細孔径分布を試験します
�0.0005 m2/g 以上の比表面積分析
→ 0.35 ～ 500 nm の細孔径分析
�5 ポイント BET テストは 20 分以内に完了できます
â インジケーターライトにより、現在の機器のステータスに関する直感的なフィードバックが提供されます
â¡ 高度に改善された 効率: 各分析ステーションと P0 ステーションには特別な圧力センサーが装備されています。 6 つのステーションが並行してテストされます。
→ 左右のデュアルモジュールは互いに干渉することなく独立して制御されます。 2 つのガスを同時にテストできるため、テスト柔軟性が大幅に向上します
。⣠回転保護ドア: スペースを節約するために、開いているときはドアが機械の内側に隠れます。
| CIQTEK Climber 比表面積および細孔径分析装置の仕様 | ||
| テストパフォーマンス | 試験フラックス | 2/4/6 ステーション (オプション)、並列テスト |
| テストガス | N2、Ar、CO2、Kr、その他のガス。 | |
| 測定範囲 |
比表面積：０．０００５ｍ ２９ ２ ３０ ／ｇ以上 。細孔サイズ: 2 ～ 500 nm の細孔サイズの正確な分析、0.35 ～ 2 nm の細孔サイズのルーチン分析 全細孔容積：０．０００１ｃｃ／ｇ以上 |
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| 検査精度 |
比表面積の再現性 (RSD) ≤ 1.0 %; いくつかの細孔サイズの最も再現性のある偏差 ≤ 0.15 nm |
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| 分圧範囲 | 10-5 ～ 0.999 | |
| 脱気 | 独立したサンプル前処理装置、独立した6グループの温度制御 | |
| 温度制御範囲 | 室温～400℃、温度制御精度：±0.1℃ | |
| ソフトウェア機能 | 解析モデル | BET表面積、ラングミュア表面積、tプロット解析、BJH、HK、SF、DR/DA、MP法、NLDFT細孔径分布 |
| ハードウェア構成 | 圧力センサー | 1000 Torr、精度 <0.1% FS |
| P0 チューブ | 各モジュール用の個別のステンレス鋼 P0 チューブ | |
| 真空ポンプ | 各モジュール用の個別のステンレス鋼 P0 チューブ | |
| デュワーズ | 3L | |
| 寸法 | 幅63cm×奥行き51cm×高さ72cm、重量53kg | |
EASY-V 3220 & 3210 は、CIQTEK が独自に開発した静的容積法を用いた BET 比表面積および細孔径分析装置です。 ▪ 比表面積試験、範囲 0.0005 (m 2 /g) 以上。 ▪ 細孔サイズ分析: 0.35 nm ～ 2 nm (微細孔)、微細孔サイズ分布分析。2 nm ～ 500 nm (メソ細孔またはマクロ細孔)。 ▪ 2 つの分析ステーション。EASY-V 3220: 2 つのサンプルの同時テスト。EASY-V 3210: 2 つのサンプルの交互テスト。 ・分子ポンプを搭載。
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EASY-V 3440 は、CIQTEK が独自に開発した静的容積法を用いた BET 比表面積・細孔径分析装置です 。 ▪ 比表面積試験、範囲 0.0005 (m 2 /g) 以上。 ▪ 細孔サイズ分析: 0.35 nm ～ 2 nm (微細孔)、微細孔サイズ分布分析。2 nm ～ 500 nm (メソ細孔またはマクロ細孔)。 ▪ 4 つの分析ステーション、4 つのサンプルの同時検査。 ・分子ポンプを搭載。
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EASY-V 1220は、CIQTEKが独自に開発した静的容積法を用いたBET比表面積・細孔径分析装置です。 ▪ 比表面積試験、範囲 0.0005 (m 2 /g) 以上。 ▪ 細孔サイズ分析: 2 nm ～ 500 nm。 ▪ 2 つの分析ステーション、2 つのサンプルの同時検査。 ・2段真空ポンプを搭載しています。
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EASY-V 1440 は、CIQTEK が独自に開発した静的容積法を用いた BET 比表面積・細孔径分析装置です。 ▪ 比表面積試験、範囲 0.0005 (m 2 /g) 以上。 ▪ 細孔サイズ分析: 2 nm ～ 500 nm。 ▪ 4 つの分析ステーション、4 つのサンプルの同時検査。 ・2段真空ポンプを搭載しています。
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EASY-G 1310は、CIQTEKが独自に開発したガス置換法を採用した高精度ガス比重計です。 高集積、小型・軽量、多検体容器設計による高いコストパフォーマンスでユーザー様にご好評いただいております。いくつかの画期的なテクノロジーは、高精度で再現性のあるテスト結果をもたらします。 CIQTEK EASY-G 1310 は、粉末、バルク固体、発泡体などのさまざまな材料の真密度と気孔率を高いテスト効率で迅速かつ正確に測定でき、迅速な製品品質テストのために工業生産ラインで広く使用できます。
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高圧高温ガス吸着分析装置 EASY-H 2210 および EASY-H 2420 は、CIQTEK が独自に開発した静的容積法を採用した高性能吸脱着等温線試験装置です。 高圧高温ガス吸着分析装置 EASY-H 2210 および EASY-H 2420 は、CIQTEK が独自に開発した静的容積法を採用した高性能の吸脱着等温線試験装置です。
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高圧高温ガス吸着分析装置 EASY-H 1210 および EASY-H 1420 は、CIQTEK が独自に開発した静的容積法を採用した高性能の吸脱着等温線試験装置です。 等温温度と圧力の範囲をテストして、多くの研究分野のニーズを満たすことができます。この製品は、高温高圧吸着試験機能と独自のPCT等温線および水素吸脱着圧力プラットフォームを備えており、希土類合金材料の水素貯蔵産業、シェールガス、炭層メタンの吸着研究に広く使用できます。石油探査およびガス分離およびその他の分野。また、触媒、モレキュラーシーブ、活性炭などの一部の吸着材料の吸着性能の理解、燃料電池、カーボンナノチューブ、グラフェンの研究にも重要です。
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