タングステンフィラメントSEM | SEM3200

SEM3200 用 SEM 検出器

SEM顕微鏡は、表面形態の観察だけでなく、試料表面の微小領域の組成分析にも使用されます。

CIQTEK SEM 顕微鏡 SEM3200 は、広範なインターフェースを備えた大きな試料チャンバーを備えています。従来のエバーハート・ソーンレー検出器（ETD）、反射電子検出器（BSE）、エネルギー分散型X線分光法（EDS/EDX）に加え、後方散乱電子回折パターン（EBSD）やカソードルミネッセンス（CL）などの多彩なインターフェースをサポート) も予約されています

SEM 反射電子検出器 (BSE)

二次電子イメージングと反射電子イメージングの比較

反射電子イメージングモードでは、電荷効果が大幅に抑制され、試料表面の組成に関するより多くの情報が観察できます。

めっき試験片:

タングステン鋼合金試験片:

四象限反射電子検出器 - マルチチャンネルイメージング

エネルギースペクトル

LED小型ビーズのエネルギースペクトル分析結果。

SEM 後方散乱電子回折パターン (EBSD)

大ビーム電流を備えた SEM 顕微鏡 SEM3200 は、高解像度 EBSD の試験要件を完全に満たしており、金属、セラミック、鉱物などの多結晶材料を分析して結晶方位や粒度を分析できます。

この図は、Ni 金属試料の EBSD 粒子マップを示しています。これにより、粒子のサイズと方向を特定し、粒界と双晶を決定し、材料の組織と構造を正確に評価できます。

ビデオ: CIQTEK タングステン フィラメント SEM 顕微鏡 SEM3200 の紹介ビデオ

CIQTEK SEM 顕微鏡 SEM3200 イメージギャラリー

CIQTEK SEM 顕微鏡 SEM3200 技術のハイライト

低電圧SEM

低電圧での浸透深さが浅い炭素材料試験片。試料表面の真のトポグラフィーを詳細な詳細情報で取得できます。

毛髪標本の電子線照射ダメージは、帯電効果を排除しながら低電圧で軽減されます。

低真空 SEM

濾過されたファイバーチューブ材料は導電性が低く、高真空中では著しく帯電します。 SEM 顕微鏡 SEM3200 を使用すると、非導電性試料をコーティングなしで低真空中で直接観察できます。

広い視野

試料ステージのナビゲーションと衝突防止

光ナビゲーション

CIQTEK SEM 顕微鏡を使用する場合は、行きたい場所をクリックして簡単なナビゲーションで確認できます。

チャンバー内カメラが標準装備されており、標本の迅速な位置特定に役立つ HD 写真を撮影できます。

クイックジェスチャーナビゲーション

CIQTEK SEM 顕微鏡 SEM3200 クイック ナビゲーションは、ダブルクリックして移動し、中マウス ボタンを使用してドラッグし、フレームを使用してズームすることで実現します。

説明: フレーム ズーム - 低倍率ナビゲーションで標本を大きく表示するには、関心のある標本領域をすばやくフレームに収めることができ、画像が自動的にズームインして効率が向上します。

ステージアンチコリジョン

CIQTEK SEM 顕微鏡 SEM3200 マルチウェイ衝突防止ソリューション:

1.試料の高さを手動で入力: 試料表面と対物レンズの間の距離を正確に制御します。

2．画像認識とモーション キャプチャ: リアルタイムのステージの動きを監視します。

3. *ハードウェア: 衝突の瞬間にステージモーターを停止します。

特徴的な機能

インテリジェンス支援による画像乱視補正

視野全体の非点収差を視覚的に表示し、マウスをクリックして修正するように素早く調整します。

オートフォーカスSEM

ワンボタンでフォーカスを合わせ、高速イメージングを実現します。

自動スティグマメーター

ワンクリック乱視控除で作業効率が向上します。

自動明るさとコントラスト

ワンクリックで自動明るさとコントラストを調整し、適切な画像のグレースケールを調整します。

複数の情報の同時イメージング

CIQTEK SEM 顕微鏡 SEM3200 ソフトウェアは、混合イメージングの SE と BSE 間のワンクリック切り替えをサポートしています。標本の形態学的情報と組成情報の両方を同時に観察できます。

高速画像回転調整

線をドラッグして放すと、その場で画像が回転します。