製造業は実体経済の根幹であり、世界的に製造業の重要性が強調されています。走査型電子顕微鏡 (SEM) は強力な分析機器として、製造製品の革新と製品品質の向上に大きな役割を果たします。
しかし、実際には、SEM は破損しやすく、使用が複雑で、開始までに時間がかかり、隠れたコストが高くなるという懸念がよくあります。
CIQTEK SEM 研究開発チームは、「誰もが使用できる」という目標を掲げて、「簡単だが単純ではない」タングステン フィラメント SEM2000を作成することで、この問題点に対処しました。
CIQTEK タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡 SEM2000
簡単だが単純ではない
SEM2000の操作インターフェースはシンプルで使い始めやすく、耐久性があり、故障率が低く、初心者でも簡単に使用できます。
SEM2000 の高度な自動化、キー イメージング、自動フォーカス、自動分散、および自動コントラスト機能により、パラメータのデバッグ手順が大幅に簡素化されます。
SEM2000には完全な衝突防止プロセスがあり、サンプルが対物レンズのポーラーシュー、二次電子検出器、その他の部品に接触するのを完全に回避できます。
以下は、初心者が短期間のトレーニング後に SEM2000 を使用して撮影した写真です。
鮮明な画像、良好なコントラスト、深い被写界深度。
使用コストを削減し、運用効率を向上させたい場合。
電子顕微鏡を使ったことがなく、初めてSEMに挑戦してみたい方。
ツールをもっとシンプルにしたい場合。
それならSEM2000が最良の選択です!
CIQTEK SEM5000 は、高圧電子ビームトンネル技術 (SuperTunnel)、低収差、非浸漬を備えた高度な電子光学コラム設計の恩恵を受け、豊富な機能によってサポートされる高解像度のイメージングおよび分析能力を備えた電界放射型走査電子顕微鏡です。対物レンズにより、低電圧・高分解能イメージングを実現し、磁性試料の分析も可能です。 光学式ナビゲーション、自動化された機能、慎重に設計された人間とコンピューターの対話型ユーザー インターフェイス、および最適化された操作と使用プロセスにより、専門家かどうかに関係なく、高解像度のイメージングと分析作業をすぐに開始して完了できます。
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CIQTEK SEM5000 は、高圧電子ビームトンネル技術 (SuperTunnel)、低収差、非浸漬を備えた高度な電子光学コラム設計の恩恵を受け、豊富な機能によってサポートされる高解像度のイメージングおよび分析能力を備えた電界放射型走査電子顕微鏡です。対物レンズにより、低電圧・高分解能イメージングを実現し、磁性試料の分析も可能です。 光学式ナビゲーション、自動化された機能、慎重に設計された人間とコンピューターの対話型ユーザー インターフェイス、および最適化された操作と使用プロセスにより、専門家かどうかに関係なく、高解像度のイメージングと分析作業をすぐに開始して完了できます。
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CIQTEK SEM4000 は、高輝度・長寿命のショットキー電界放出型電子銃を搭載した分析用熱電界放出型走査電子顕微鏡です。 大きなビーム電流を連続的に調整できる 3 段階の磁気レンズ設計は、EDS、EBSD、WDS、およびその他のアプリケーションに明らかな利点をもたらします。低真空モードをサポートし、弱いサンプルまたは非導電性サンプルの導電率を直接観察できます。標準の光学式ナビゲーション モードと直感的な操作インターフェイスにより、分析作業が容易になります。
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CIQTEK SEM4000 は、高輝度・長寿命のショットキー電界放出型電子銃を搭載した分析用熱電界放出型走査電子顕微鏡です。 大きなビーム電流を連続的に調整できる 3 段階の磁気レンズ設計は、EDS、EBSD、WDS、およびその他のアプリケーションに明らかな利点をもたらします。低真空モードをサポートし、弱いサンプルまたは非導電性サンプルの導電率を直接観察できます。標準の光学式ナビゲーション モードと直感的な操作インターフェイスにより、分析作業が容易になります。
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高輝度・長寿命のショットキー電界放出型電子銃を搭載した分析用電界放出型走査電子顕微鏡（FESEM） SEM4000Pro は、最大 200 nA のビーム電流に対応する 3 段階のコンデンサー電子光学カラム設計により、EDS、EBSD、WDS、およびその他の分析アプリケーションで利点をもたらします。このシステムは、低真空モードに加え、高性能低真空二次電子検出器および格納式反射電子検出器をサポートしており、導電性の低いサンプルや非導電性サンプルの直接観察に役立ちます。 標準の光学式ナビゲーション モードと直感的なユーザー操作インターフェイスにより、分析作業が容易になります。
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超高解像度電界放射型走査電子顕微鏡 (FESEM): 0.6 nm@15 kV および 1.0 nm@1 kV CIQTEK SEM5000X 超高解像度 FESEM は、アップグレードされたカラムエンジニアリングプロセス、「SuperTunnel」テクノロジー、および高解像度対物レンズ設計を利用して、低電圧イメージング解像度を向上させます。 FESEM SEM5000Xの試料室ポートは16ポートまで拡張され、試料交換ロードロックは最大8インチウェーハサイズ（最大直径208mm）まで対応し、用途が大幅に拡大しました。高度なスキャン モードと強化された自動機能により、より強力なパフォーマンスとさらに最適化されたエクスペリエンスがもたらされます。
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CIQTEK SEM5000Pro は、豊富な機能でサポートされ、高度な電子光学カラム設計の恩恵を受け、高圧電子ビームトンネル技術 (SuperTunnel)、低収差、MFL 対物レンズを備えた、高解像度のイメージングと分析能力を備えた電界放出走査電子顕微鏡 (FESEM) であり、低電圧高解像度イメージングを実現し、磁性試料も分析できます。 光学ナビゲーション、自動化された機能、慎重に設計された人間とコンピューターの相互作用ユーザーインターフェイス、最適化された操作と使用プロセスにより、専門家であるかどうかに関係なく、高解像度の画像化と分析作業をすぐに開始して完了できます。
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高真空モードと低真空モードの両方で優れた画像品質機能を備えた高性能タングステン フィラメント SEM 顕微鏡 CIQTEK SEM3200 SEM 顕微鏡 は、ユーザーフレンドリーなインターフェイスを備えた広い被写界深度を備えており、ユーザーは試料の特性を評価し、顕微鏡イメージングと分析の世界を探索できます。
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大容量試料のクロススケールイメージングのための高速走査型電子顕微鏡 CIQTEK HEM6000は、高輝度大ビーム電流電子銃、高速電子ビーム偏向システム、高電圧試料ステージ減速、ダイナミック光軸、浸漬電磁・静電コンボ対物レンズなどの技術を搭載し、高輝度を実現します。 - ナノスケールの解像度を確保しながら画像取得を高速化します。 自動化された操作プロセスは、より効率的かつスマートな大面積高解像度イメージング ワークフローなどのアプリケーション向けに設計されています。イメージング速度は、従来の電界放射型走査型電子顕微鏡 (fesem) に比べて 5 倍以上に達します
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E2 Building, Innovation Industrial Park II, High-tech District, Hefei, Anhui, China
+86-551-62835225
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