韓国のGSEMテストセンターでCIQTEKのSEM3200およびSEM4000Proの設置に成功

大ビーム I を備えた分析用電界放射型走査電子顕微鏡 (FESEM) CIQTEK SEM4000Proは、高輝度・長寿命のショットキー電界放出型電子銃を搭載したFE-SEMの解析モデルです。 3 段階の電磁レンズ設計 は、EDS / EDX、EBSD、WDS などの分析アプリケーションに大きな利点をもたらします。低真空モードと高性能低真空二次電子検出器、および格納可能な反射電子検出器が標準装備されており、導電性の低いまたは非導電性の試料の観察に役立ちます。

次世代タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡 CIQTEK SEM3300走査型電子顕微鏡 (SEM)には、「スーパートンネル」電子光学、インレンズ電子検出器、静電および電磁複合対物レンズなどの技術が組み込まれています。これらの技術をタングステン フィラメント顕微鏡に適用することにより、このような SEM の長年の分解能限界が超えられ、以前は電界放出型 SEM でのみ達成できた低電圧分析タスクをタングステン フィラメント SEM で実行できるようになりました。

高性能かつユニバーサルなタングステン フィラメント SEM 顕微鏡 CIQTEK SEM3200 SEM 顕微鏡

120kV 電界放射型透過電子顕微鏡 (TEM) １．分割されたワークスペース: ユーザーは、TEM への環境干渉を軽減する分割された部屋で快適に TEM を操作できます。 ２．高い運用効率: 指定されたソフトウェアは高度に自動化されたプロセスを統合し、リアルタイム監視による効率的な TEM インタラクションを可能にします。 ３．アップグレードされた操作体験: 高度に自動化されたシステムを備えた電界放出型電子銃を搭載。 ４．高い拡張性: ユーザーがより上位の構成にアップグレードできるように、さまざまなアプリケーション要件を満たす十分なインターフェイスが確保されています。