日本語
English
français
Deutsch
русский
italiano
español
português
العربية
한국어
简体中文
CIQTEK、Microscopy & Microanalysis 2026への参加を無事終了
CIQTEKがMicroscopy & Microanalysis 2026に参加
2026年8月12日
8月2日から6日まで、CIQTEKは米国ウィスコンシン州ミルウォーキーのBaird Centerで開催されたMicroscopy & Microanalysis 2026(M&M 2026)に参加しました。ブース718では、CIQTEKはSEM3300タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡を展示し、カンファレンス参加者と交流しました。
M&Mは、顕微鏡学およびマイクロアナリシスの科学と技術に関する年次フォーラムです。イベント期間中、CIQTEKはブースでSEM3300タングステンフィラメントSEMを展示しました。製品資料、画像展示、現地での会話を通じて、チームは来場者にCIQTEKの電子顕微鏡製品と応用分野を紹介しました。
8月3日、CIQTEKは次のタイトルのベンダーチュートリアルを発表しました:
CIQTEKによる、大規模ボリューム顕微鏡アプリケーション向けに低kVで優れたイメージング解像度を妥協することなく実現する、独自の高速走査型電子顕微鏡の能力を引き出す方法
プレゼンテーションでは、大規模ボリューム顕微鏡アプリケーション向けの高速走査型電子顕微鏡に焦点を当てました。参加者は発表に参加し、ブースでCIQTEKチームと意見交換を行いました。
カンファレンス期間を通じて、CIQTEKチームは来訪者を歓迎し、電子顕微鏡製品および関連アプリケーションについて意見交換を行いました。M&M 2026の主催者の皆様、ならびにCIQTEKブースを訪れてくださったすべての方々に感謝いたします。CIQTEKは今後も、科学および産業分野のユーザー向けに電子顕微鏡技術と製品の開発を続けていきます。
伝言を残す
ホーム
製品
チャット
接触