CIQTEK SEM3200 は、高性能タングステン フィラメント走査型電子顕微鏡です。高真空モードと低真空モードの両方で優れた画像品質機能を備えています。また、被写界深度が広く、サンプルの特性を評価するためのユーザーフレンドリーな環境も備えています。さらに、豊富な拡張性により、ユーザーは顕微鏡イメージングの世界を探索することができます。
（*オプションのアクセサリ）
多用途の検出器
走査型電子顕微鏡（SEM）は、表面形態の観察だけでなく、試料表面の微小領域の組成分析にも使用されます。
CIQTEK SEM3200 は、広範なインターフェイスを備えた大きなサンプル チャンバーを備えています。従来のエバーハート・ソーンレー検出器（ETD）、反射電子検出器（BSE）、エネルギー分散型X線分光法（EDS/EDX）に加え、後方散乱電子回折装置（EBSD）やカソードルミネッセンス（CL）などの各種インターフェースをサポートも予約されています。
反射電子検出器 (BSE)
二次電子イメージングと反射電子イメージングの比較
反射電子イメージングモードでは、電荷の影響が大幅に軽減され、サンプル表面の組成に関するより多くの情報を取得できます。
めっきサンプル:
タングステン鋼合金サンプル:
4 セグメント反射電子検出器 - マルチチャンネル イメージング
検出器はコンパクトな設計で高感度です。 4分割設計により、試料を傾けることなく、異なる方向の影像や組成分布像を取得することができます。
毛髪サンプルの電子線照射による損傷は、帯電効果を排除しながら低電圧で軽減されます。
エネルギースペクトル
LED小型ビーズのエネルギースペクトル解析結果。
後方散乱電子回折 (EBSD)
大ビーム電流を備えたタングステン フィラメント電子顕微鏡は、高解像度 EBSD の試験要件を完全に満たしており、金属、セラミック、鉱物などの多結晶材料を分析して結晶方位の校正や粒径を分析することができます。
この図は、Ni 金属試料の EBSD 対蹠マップを示しています。これにより、粒径と方位を特定し、粒界と双晶を特定し、材料の組織と構造を正確に判断できます。
| モデル | SEM3200A | SEM3200 | ||
| 電気光学システム | 電子銃 | 整列済みの中型フォーク型タングステン フィラメント | ||
| 解決 | 高真空 | 3 nm @ 30 kV (SE) | ||
| 4 nm @ 30 kV (BSE) | ||||
| 8 nm @ 3 kV (SE) | ||||
| *低真空 | 3 nm @ 30 kV (SE) | |||
| 倍率 | 1～300,000x (フィルム倍率) | |||
| 1-1000,000x (画面倍率) | ||||
| 加速電圧 | 0.2kV～30kV | |||
| プローブ電流 | ≥1.2μA、リアルタイム表示 | |||
| イメージングシステム | 検出器 | 二次電子検出器 (ETD) | ||
| ※反射電子検出器（BSED）、※低真空二次電子検出器、※エネルギー分光器EDSなど | ||||
| 画像フォーマット | TIFF、JPG、BMP、PNG | |||
| 真空システム | 真空モデル | 高真空 | 5×10 より良い-4 Pa | |
| 低真空 | 5～1000Pa | |||
| 制御モード | 全自動制御 | |||
| サンプルチャンバー | カメラ | 光学式ナビゲーション | ||
| サンプルチャンバー内のモニタリング | ||||
| サンプルテーブル | 3軸自動 | 5軸自動 | ||
| 距離 | X：120mm | X：120mm | ||
| Y:115mm | Y:115mm | |||
| Z:50mm | Z:50mm | |||
| / | R：360° | |||
| / | T：-10°～+90° | |||
| ソフトウェア | オペレーティング·システム | ウィンドウズ | ||
| ナビゲーション | 光学式ナビゲーション、ジェスチャークイックナビゲーション | |||
| 自動機能 | 自動輝度コントラスト、自動フォーカス、自動消散 | |||
| 特別な機能 | インテリジェント支援分散、*大規模画像スティッチング (オプションのアクセサリ) | |||
| インストール要件 | 空間 | L≧3000mm、W≧4000mm、H≧2300mm | ||
| 温度 | 20°C (68°F) ～ 25°C (77°F) | |||
| 湿度 | ≤ 50% | |||
| 電源 | AC220V(±10%)、50Hz、2kVA | |||
>低い電圧
低電圧で侵入深さが浅い炭素材料サンプル。サンプル表面の実際の形状をより詳細に取得できます。
毛髪サンプルの電子線照射による損傷は、帯電効果を排除しながら低電圧で軽減されます。
> 真空度が低い
濾過されたファイバーチューブ材料は導電性が低く、高真空中では著しく帯電します。低真空下では、非導電性サンプルをコーティングなしで直接観察できます。
> 広い視野
生物サンプルは、広い視野で観察することで、テントウムシの全体的な形態や頭部構造の詳細を容易に取得でき、クロススケール分析が可能になります。
> ナビゲーションと衝突防止
光学式ナビゲーション
見たい場所をクリックすると、より簡単に移動できます。
ビン内カメラが標準装備されており、HD 写真を撮影できるので、サンプルを迅速に見つけることができます。
クイックジェスチャーナビゲーション
ダブルクリックして移動し、マウスの中ボタンでドラッグし、フレームをズームしてクイック ナビゲーションを実行します。
説明: フレーム ズーム - 低倍率ナビゲーションでサンプルの大きなビューを取得するには、関心のあるサンプル領域をすばやくフレーム化して効率を向上させることができます。
衝突防止
多次元衝突防止ソリューションを採用。
1. サンプルの高さを手動で入力します。サンプルと対物レンズの間の距離を正確に制御します。
2. 画像認識とモーション キャプチャ: リアルタイム画像を監視します。
3.*ハードウェア: 衝突の瞬間にモーターを停止します。
> 特徴的な機能
インテリジェントな分散支援
視野全体の分散の度合いを視覚的に反映し、透明なスポットをマウスでクリックすることで最適な分散に素早く調整します。
オートフォーカス
ワンボタンでフォーカスし、高速イメージングを実現します。
自動消散
ワンクリック消灯で作業効率が向上します。
自動輝度コントラスト
ワンクリックで自動輝度コントラストを調整し、適切なグレースケール画像を調整します。
複数の情報を同時にイメージング
SEM3200 ソフトウェアは、混合イメージングの SE と BSE 間のワンクリック切り替えをサポートしています。サンプルの形態情報と組成情報を同時に観察できます。
高速画像回転調整
線をドラッグして位置を調整します。
CIQTEK SEM5000 は、高圧電子ビームトンネル技術 (SuperTunnel)、低収差、非浸漬を備えた高度な電子光学コラム設計の恩恵を受け、豊富な機能によってサポートされる高解像度のイメージングおよび分析能力を備えた電界放射型走査電子顕微鏡です。対物レンズにより、低電圧・高分解能イメージングを実現し、磁性試料の分析も可能です。 光学式ナビゲーション、自動化された機能、慎重に設計された人間とコンピューターの対話型ユーザー インターフェイス、および最適化された操作と使用プロセスにより、専門家かどうかに関係なく、高解像度のイメージングと分析作業をすぐに開始して完了できます。
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CIQTEK SEM4000 は、高輝度・長寿命のショットキー電界放出型電子銃を搭載した分析用熱電界放出型走査電子顕微鏡です。 大きなビーム電流を連続的に調整できる 3 段階の磁気レンズ設計は、EDS、EBSD、WDS、およびその他のアプリケーションに明らかな利点をもたらします。低真空モードをサポートし、弱いサンプルまたは非導電性サンプルの導電率を直接観察できます。標準の光学式ナビゲーション モードと直感的な操作インターフェイスにより、分析作業が容易になります。
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CIQTEK DB500 は、ナノ分析および試料調製用の集束イオンビームカラムを備えた電界放射型走査電子顕微鏡であり、「スーパートンネル」技術、低収差、無磁性対物レンズ設計が適用され、低電圧および高分解能を備えています。ナノスケールの分析能力を保証する能力。イオンカラムは、非常に安定した高品質のイオンビームを備えた Ga+ 液体金属イオン源を促進し、ナノ加工能力を保証します。 DB500 は、統合されたナノマニピュレーター、ガス注入システム、対物レンズ用の電気的汚染防止機構、および 24 個の拡張ポートを備えており、包括的な構成と拡張性を備えた万能のナノ分析および製造プラットフォームとなっています。
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CIQTEK SEM5000X は、15 kV で 0.6 nm および 1 kV で 1.0 nm という画期的な分解能を備えた超高分解能の電界放射型走査電子顕微鏡 (FE-SEM) です。 アップグレードされたカラムエンジニアリングプロセス、「SuperTunnel」テクノロジー、および高解像度対物レンズ設計の恩恵により、SEM5000X は低電圧イメージング解像度のさらなる向上を実現できます。試料室ポートは 16 まで拡張され、試料交換ロードロックは最大 8 インチのウェーハ サイズ (最大直径 208 mm) をサポートし、アプリケーションを大幅に拡大します。カバレッジ。高度なスキャン モードと強化された自動機能により、より強力なパフォーマンスとさらに最適化されたエクスペリエンスがもたらされます。
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+86-551-62835225
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